Recentemente, o projeto "Tecnologia e instrumentos de medição de interferência laser de alta resolução de alta velocidade e múltiplos eixos" concluído pela Universidade de Tsinghua recebeu o Primeiro Prêmio de Progresso Científico e Tecnológico da Sociedade de Testes Metrológicos da China em 2018.
A medição é a base da ciência e tecnologia, é a ferramenta para a humanidade conhecer o mundo, as três revoluções tecnológicas do calendário humano * estão intimamente relacionadas com o avanço da tecnologia de teste metrológico, os resultados da ciência e tecnologia de teste metrológico para promover o progresso e o desenvolvimento de outras ciências e tecnologias têm um papel importante. A interferência a laser é um meio eficaz para alcançar o controle ultra-preciso e a medição em nanoescala, é um caminho importante para garantir a nanomedição rastreável e também é uma tecnologia de teste metrológico chave para os países poderosos em medição e fabricação.
Equipe de projeto para o posicionamento ultra-preciso de mesas de trabalho de fotogravura, medição metrológica básica e aplicações instrumentais para laserInterferímetroAs necessidades de medição de alta dinâmica, alta resolução, escala transversal e rastreabilidade, investigação aprofundada sobre os princípios de medição, métodos e problemas científicos e técnicos comuns na instrumentação do sistema de medição, inovação na integração de interferência multi-eixo, decodificação de sinal e compensação de refração, para formar um conjunto completo de sistemas autônomos de medição de interferência a laser de alto desempenho; Propor uma série de métodos de medição de interferência a laser de origem rastreável para referência de comprimento ou frequência, para alcançar medições de alta precisão com incerteza de corte e nanoescala; Formaram uma série de produtos de conhecimento, os resultados da pesquisa apoiam o posicionamento de alta precisão da máquina de gravação de luz independente do nosso país, laserVibrométricoAplicações como a decodificação do sinal e a seleção para a Exposição Nacional de Inovação Científica e Tecnológica do "12º Quinquenal".
O projeto implementou o sistema de medição de interferência a laser de alta velocidade, grande alcance e alta resolução de múltiplos eixos de alta velocidade e desenvolvimento de toda a cadeia do projeto de solução de detecção de múltiplos graus de liberdade, a partir de componentes de interferômetro, detecção de sinal de desregulação, e propôs o método de medição de comprimento de interferência a laser de precisão de fontes de rastreabilidade de frequência óptica. Até o momento, o projeto foi autorizado a inventar mais de 20 patentes e publicar mais de 30 artigos do SCI.
Além disso, a fotogravura desenvolvida pela equipe do projetoInterferômetro a laserO sistema, aplicado com sucesso ao processo de pesquisa e desenvolvimento de prototipos de peças de trabalho de gravação automática, aplica mais de 50 conjuntos, satisfaz bem as necessidades de medição de precisão de prototipos de peças de trabalho duplas de gravação automática, apoia a formação de interferômetros a laser de dupla frequência de gravação automática, alivia a dependência de interferômetros estrangeiros, fornece um excelente desempenho e não está sujeito à capacidade de medição e rastreação humana para o desenvolvimento de equipamentos e instrumentos do nosso país.
O "Prêmio de Progresso Científico e Tecnológico da Sociedade de Testes Metrológicos da China" é um prêmio de progresso científico e tecnológico de nível provincial registrado no Escritório Nacional de Prêmios Científicos e Tecnológicos. Os projetos que declaram o primeiro prêmio exigem que a tecnologia global tenha sido formalmente aplicada por mais de três anos e tenha alcançado grandes benefícios econômicos ou sociais. Atualmente, os produtos foram aplicados com sucesso em várias áreas como aeroespacial, fabricação de automóveis e inspeção de máquinas-ferramentas, tornando-se uma poderosa ferramenta de apoio para melhorar a qualidade dos produtos fabricados na China.