Este cliente é um fornecedor profissional de materiais de substrato para a tecnologia GaN on Sapphire de terceira geração. A empresa desenvolve materiais de substrato adaptados de acordo com diferentes áreas de aplicação de chips e suas características técnicas de extensão, fornecendo soluções integradas de materiais de substrato para dispositivos de nitreto de gálio através de design estrutural gráfico, aplicações de combinações de materiais diferentes, implementação de processos, etc.

Atualmente, os principais produtos da empresa incluem substrato gráfico de zafir de 2 a 6 polegadas (PSS), substrato gráfico de materiais compósitos (MMS), principalmente aplicados à iluminação, exibição, iluminação de fundo e iluminação de fundo. Mini/Micro LED、 áreas como o LED ultravioleta profundo. A empresa estabeleceu o Centro de Pesquisa e Desenvolvimento de Tecnologia de Engenharia de Substratos de Semicondutores na Província de Guangdong, em torno da próxima geração de tecnologia de dispositivos fotoeletrônicos avançados GaN para a pesquisa e desenvolvimento de substratos e extensões integradas, para realizar pesquisas técnicas como substratos de zafiro para dispositivos de potência GaN.

O medidor de espessura de membrana FR-Scanner é uma medição de interferência de luz visível na faixa de comprimentos de onda de 370-1020nm, capaz de medir a espessura da camada de membrana na faixa de 12nm-100um, com uma precisão de até 0,1% ou 1nm, com uma precisão de 0,02nm, é um dispositivo de medição de espessura de membrana com alta precisão de deslocamento de plataforma, que realiza a função de medição de mapeamento de múltiplos pontos, com base na velocidade de medição mais rápida de amostras de 8 "até 300 pontos por minuto.