A empresa é a terceira geração de tecnologia de doping de semicondutores de carboneto de silício (SiC) na China e uma instituição integrada em pesquisa, desenvolvimento, projeto, fabricação, aplicação e venda de dispositivos. É um pesquisador dedicado ao design e crescimento de estruturas de chips de semicondutores de alta potência, MOSFET, design e aplicação de chips IGBT, embalagem e dissipação de calor de dispositivos de potência de semicondutores de terceira geração.

A Thetametrisis é uma empresa de alta tecnologia desenvolvida independentemente do Centro Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento Científico da Grécia, com a principal tecnologia de medir com precisão a espessura de camadas únicas e múltiplas, bem como a taxa de refração, usando análises espectrais de reflexão óptica, que variam de alguns nanômetros a níveis de mícrons.

O FR-Scanner (370nm-1020nm) é um instrumento de medição de mesa de pequena área para medir automaticamente a espessura do revestimento em diferentes posições na wafer. O FR-Scanner mede com rapidez e precisão as propriedades do filme, como espessura, taxa de refração, etc. O estágio de wafer com adsorção a vácuo pode testar produtos de diferentes tamanhos e formas.

O FR-Scanner varredura todo o wafer girando e movendo-se linearmente com alta velocidade e precisão (raio e ângulo), permitindo que dados de refletidão precisos e altamente repetitivos sejam registrados, tornando o FR-Scanner a ferramenta ideal para mapeamento on-line e on-line de revestimentos em wafers ou outros revestimentos em substratos.

O FR-Scanner oferece uma ampla gama de configurações de aplicações, de filmes finas até alguns nanômetros e de espessuras até algumas centenas de mícrons, com software dedicado para uso diário. O FR-Scanner oferece excelente desempenho em termos de precisão, precisão, reprodutividade e estabilidade a longo prazo.