Princípio técnico:

Tecnologia de fonte eletrônica
Usando uma arma eletrônica de lançamento de campo de base de Short ou de campo térmico, os eletrônicos metálicos são desligados através de campos elétricos fortes para formar feixes eletrônicos de alto brilho e alta coerência. Seu brilho é muito superior às armas eletrônicas de emissão térmica tradicionais e o diâmetro da mancha pode ser menor que 1 nm, melhorando significativamente a resolução da imagem.

Sistema óptico eletrônico
O feixe de eletrões é focado através de lentes eletromagnéticas e desviado para formar uma pequena sonda, varredura linha a linha na superfície da amostra, gerando eletrões secundários e eletrões de retrodispersão e outros sinais. Esses sinais são coletados e processados pelo detector para gerar imagens que refletem a forma e a composição da amostra.

Sistema de vácuo
Manter um ambiente de alto vácuo para evitar a dispersão de feixes de eletrões e a poluição das amostras e garantir a estabilidade do sinal. Alguns modelos suportam o modo de baixo vácuo, permitindo a observação direta de amostras aquáticas ou não condutoras.

Eletroscópio de varredura de lançamento de campo de mesaParâmetros de desempenho:

Resolução: A resolução de imagem eletrônica secundária pode chegar a 1,0 nm, e alguns modelos ainda podem manter a resolução de 1,4 nm em baixa tensão (1kV), adequado para observar amostras isoladas ou sensíveis ao feixe de eletrões.

Amplificação: até 1 milhão de vezes, cobrindo necessidades analíticas desde macromorfologia até nanoestruturas.

Tensão acelerada: a faixa é geralmente de 0,2-30kV, suportando imagens de baixa tensão para reduzir danos na amostra.

Detectores: Standard com detector de eletrônicos secundários (SE), detector de eletrônicos de dispersão inversa (BSE) e espectrómetro de energia (EDS) para observação morfológica e análise elementar simultâneas.

Mesa de amostras: suporta amostras de grande tamanho, alguns modelos estão equipados com função de rotação inclinada para obter uma observação de vários ângulos.