O sistema de preparação da superfície alvo Leica EM TXP, com função de polimento de bloco fixo, é usado para serrar, moer, fresar e polir amostras para testes com eletroscópio de varredura, eletroscópio de transmissão e tecnologia LM.

com um espelho de visão integrado para localização e observação durante o processamento de amostras em locais alvo mais sutis e difíceis de observar; Usando a alça de rotação da amostra, o ângulo de observação da amostra pode ser alterado, ajustável de 0°-60°, ou observado verticalmente na superfície frontal da amostra de 90°, a distância pode ser medida usando a escala de óculos.