Simulação de exibição para interações entre carga e excitação até gerenciamento de luz

Sistema de medição espectral OLED Phelos/Analisador de espectro angular

A Phelos é usada para medir as propriedades espectrais de emissão e os ângulos de polarização de OLEDs, LEDs de perovskite e outros dispositivos de emissão de luz, além de medir a relação entre os espectros de polarização s e p do dispositivo, o espectro de emissão e o ângulo, calculando o ângulo de emissão e a distribuição de posição dos excitões na camada de emissão.

Função de medição PL:Espectro de emissão orgânico, ponto quântico, perovskite e ângulo de polarização

Função de medição EL:OLED、 Perovskite LED e outros dispositivos luminosos

Software de simulação Setfos

A Setfos utiliza sistemas de simulação para vários tipos de células solares (incluindo perovskite, orgânicas, superstratificadas, pilas a base de silício, etc.), LEDs de perovskite, dispositivos OLED e propriedades de materiais fotoelétricos relacionados para simular e otimizar o design, a construção, as propriedades ópticas, elétricas e fotoelétricas dos dispositivos.

Quatro módulos: módulo de absorção, módulo de dispersão/óptica avançada, módulo de difusão de deriva e módulo de emissão de luz

Sistema de teste de características transitórias de células solares/OLED Paios

Os Paios são usados ​​para análise de medição de TPC de fluxo fotoelétrico transitório de células solares, TPV de fluxo fotoelétrico transitório, teste de correlação de intensidade da luz, DLTS de espectro transitório de nível de energia profunda e outros parâmetros de desempenho, como a migração de veículos, a vida útil e a concentração de veículos, o processo dinâmico de veículos, a distribuição de doping e armadilhas, para uma análise e medição abrangentes e eficazes da migração de veículos em dispositivos de células solares / OLED e outros semicondutores orgânicos.

Funcionalidades de teste do Paios:

• TPC de fluxo fotoelétrico transitório

• Espectro fotovoltaico transitório TPV

• Declínio de tensão de circuito aberto OCVD

• Teste de correlação de intensidade de luz, curva J-V de intensidade de luz variável, intensidade de luz Isc, intensidade de luz Voc, fator ideal, etc.

• Extração de portadores de tensão linear Photo-CELIV, Dark-CELIV, Delaytime-CELIV, etc.

• CE de extração de carga

• Injecção escura DIT

• Espectroscopia de fluxo óptico de modulação de intensidade IMPS

• Modulação de intensidade espectro de tensão óptica IMVS

• Espectro de Impedência IS

• Espectro de tensão capacitiva CV

DLTS de espectro transitório de nível de energia profunda

• Espectroscopia elétrica transitória TEL

• Espectro de corrente-tensão-capilar J-V-L, etc.

Teste de temperatura: -120 °C a 150 °C