Princípio de funcionamento

O XRF de dispersão de energia (ED-XRF) recebe raios-X característicos gerados pela amostra após a excitação diretamente através de um detector de semicondutores, converte a energia em sinais elétricos e forma linhas espectrais características de elementos após o tratamento de circuitos eletrônicos. Seu núcleo é que não é necessário um cristal espectral para distinguir diferentes elementos por meio da resolução energética do detector, permitindo a detecção sincronizada de vários elementos.

XRF de dispersão de comprimento de onda (WD-XRF) usa o efeito de difração de cristal para dispersar raios-X característicos em diferentes linhas espectrais de comprimento de onda. Após a amostra ser excitada, o cristal espectral separa os raios-X de diferentes comprimentos de onda e o detector recebe um sinal de comprimento de onda específico para realizar a análise elementar em combinação com a Lei de Praga. Seu núcleo é a filtragem precisa do comprimento de onda dos cristais espectrais, garantindo a detecção de alta resolução.

Fronteiras de vantagem

Resolução e Sensibilidade

O WD-XRF usa um cristal espectral para separar eficazmente as linhas espectrais das características dos elementos vizinhos com maior resolução, especialmente adequado para análise de elementos em traço (limite de detecção até o nível μg / g). A resolução do ED-XRF é relativamente baixa, mas o desempenho é melhor na faixa de fótons de alta energia e os limites de detecção em matérias leves podem ser de 10 a 10 μg/g.

Velocidade de análise e facilidade operacional

O ED-XRF não precisa substituir o cristal espectral, pode detectar todos os elementos ao mesmo tempo, a velocidade de análise é rápida (60-100 segundos para completar a medição de vários elementos), a operação é fácil e adequada para a triagem rápida da linha de produção. O WD-XRF requer a seleção de cristais de acordo com os elementos, e a análise de um elemento leva mais tempo (2-5 minutos), mas o analisador multicanal pode reduzir o tempo de detecção de vários elementos.

Adaptabilidade da amostra

O ED-XRF não tem requisitos especiais para a forma da amostra e pode analisar diretamente sólidos, pó e líquidos, adequado para a detecção de amostras irregulares. O WD-XRF requer uma superfície plana da amostra (por exemplo, polimento sólido, laminação em pó) para garantir a precisão da detecção, mas o equipamento de amostragem é facilmente acessível e o processo de amostragem é padronizado.

Custo e manutenção do equipamento

A estrutura ED-XRF é simples, com baixa potência (<100W), sem necessidade de um sistema de resfriamento de alta potência, com baixo custo de equipamento (40.000-150.000) e fácil manutenção. O WD-XRF é equipado com um tubo de raios-X de alta potência (1-4kW) e um sistema de espectroscopia de precisão, com um custo elevado de equipamento (100.000-400.000), mas uma longa vida útil (> 10 anos) e uma maior estabilidade a longo prazo.

Aplicações

ED-XRF: adequado para inspeção de qualidade industrial, monitoramento ambiental e outros cenários que exigem inspeção rápida, como verificação de conformidade RoHS de produtos plásticos, monitoramento on-line da qualidade do minério.

WD-XRF: adequado para cenários de pesquisa científica, exploração geológica e outros que exigem análises de alta precisão, como medição do teor de metais pesados ​​no solo, análise de composição mineral.