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Endereço
No. 1670, Zhangheng Road, Parque de Alta Tecnologia de Zhangjiang, Xangai
PerkinElmer Enterprise Management (Shanghai) Co., Ltd
Perkin Elmer apresenta o segundo "Curso de Formação sobre Medição e Detecção de Materiais e Dispositivos Semicondutores"
Datas:2025-10-31Leia:0
Notícias
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De 28 a 30 de outubro de 2025,Instituto de Silicatos de Xangai, Academia Chinesa de CiênciasOrganizado2º “Curso de Formação em Tecnologia de Medição e Inspeção de Materiais e Dispositivos Semicondutores”realizado com sucesso em Xangai. Como fornecedor líder mundial de instrumentos e soluções analíticas,Perkin Elmer convidado para exposição e relatório temáticoExibição completaNo campo da inspeção de materiais semicondutoresTecnologia de ponta e capacidade de serviços de localização.
Antecedentes da reunião
SemicondutoresA indústria é intensiva em tecnologia e processo complexo, envolvendo centenas de processos de precisão. À medida que os processos continuam diminuindo, a pureza dos materiais, a precisão da fabricação e o controle de qualidade também estão crescendo exponencialmente. Para fortalecer a construção de equipes de talentos altamente qualificados e melhorar a compreensão e a capacidade de aplicação das técnicas analíticas avançadas pelos pesquisadores, este curso reuniu86 profissionais de institutos de pesquisa, universidades e empresasEm torno.Direções de pontos quentes para materiais fotoelétricos, materiais semicondutores de terceira geração, sensores e MEMS, testes de confiabilidade, análise de falhas, detecção e medição de defeitosRealizar formação sistemática.
Perkin Elmer faz uma maravilhosa aparição
Instalamos um estande especializado no local para apresentar soluções de análise e inspeção de todo o processo para a indústria de semicondutores, que abrangem:
Análise de impurezas de materiais de alta pureza (ICP-MS)
Detecção de oligoelementos (AAS, ICP-OES)
? Caracterização da estrutura e da composição do material (UV, IR, TEA)
? Detecção analítica de poluentes orgânicos e clorosilanos (GC/MS)
Atraiar muitos pesquisadores para interagir e explorar em profundidade os desafios de aplicação prática em precursores, wafers, embalagens e outros.
Discursor: Ju Minh
?Perkin Elmer, Diretor de Tecnologia de Aplicações de Instrumentos Analíticos
Conteúdo do relatório
O sistema de relatórios é apresentadoAplicação da tecnologia ICP-MS na inspeção de materiais a base de metais semicondutoresOs principais desafios da análise, comoEfeitos de matriz, interferência no espectro de massa e estabilidade para análises instrumentais a longo prazoPara responder a esses desafios, ele apresentou ideias de solução e métodos de otimização relevantes, como a tecnologia de diluição de gás de todo o matriz, seleção de condições de plasma, parâmetros de desenterferença de piscinas genéricas e excelente desempenho na tolerância do matriz e efeitos de carga espacial usando interfaces avançadas de três conos de grande abertura e desvio de íons de quatro polos, com ênfase nos casos de aplicação e dados experimentais do precursor.
Por fim, ele ressaltou,Inovação tecnológicacomControle de qualidade de todo o processoImpulsão de materiais semicondutoresMaior pureza e maior consistênciaA chave,Perkin Elmer contará com a capacidade de serviço profissional abrangente e sala limpa de Shanghai Zhangjiang Semiconductor，A vanguarda da análise contínuaFornecer um apoio técnico sólido para o progresso da indústria e um grande número de clientes.
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