Este instrumento mede o coeficiente de seebeck e a taxa de resistência da amostra, respectivamente, usando o método quasi dinâmico (com tecnologia) e o método de quatro sondas.Não, não.
Só pode ser usado para medir amostras de blocos de semicondutores, amostras de metais semimetálicos como cobre, níquel, paládio e outros metais, amostras não metálicas como grafito e materiais de carbono.
O coeficiente de seebeck e a resistência, bem como o coeficiente de seebeck e a resistência de amostras de película fina (nano) podem ser medidos.

* Vantagens
Propriedade intelectual independente e acesso a várias tecnologias;
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O método dinâmico mede o coeficiente de seebeck, evitando os erros sistêmicos dos métodos de medição estática tradicionais na medição da diferença de temperatura e a medição é mais precisa;
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O coeficiente de seebeck e a medição da resistência não compartilham a sonda de tensão para evitar falhas de ruptura de microtermopares;
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Sistema de aquecimento bidirecional;
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Proteção contra interrupções automáticas;
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Com acessórios de película fina (sem anfitrião, uso direto), o coeficiente de seebeck e a resistência do material de película fina podem ser medidos diretamente a temperatura normal.