Este produto usa um método de medição quasi dinâmico, que pode medir simultaneamente o coeficiente de seebeck e a resistência do material de película fina, alcançando o intervalo de temperatura
80K até 600K.

Características do hardware
Medição dinâmica do coeficiente de seebeck para evitar erros do sistema acima da medição estática da diferença de temperatura e medição mais precisa

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Usando um sistema de aquecimento bidirecional, os pontos ruins do teste podem ser testados novamente
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A medição do coeficiente de seebeck e da resistência não partilha a sonda de tensão para evitar falhas de ruptura de microtermopares
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O software é simples de operar e inteligente para o modo manual e automático