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E-mail
513687859@qq.com
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Telefone
18317070697
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Endereço
No. 888, Xiyi Road, Distrito de Jiading, Xangai
Shanghai Kelute Technology Instrument Co., Ltd
513687859@qq.com
18317070697
No. 888, Xiyi Road, Distrito de Jiading, Xangai
Principais características
A área de teste:
a. gama de temperatura de exposição a altas temperaturas: 60 ~ 150 ℃
b. Faixa de temperatura de exposição a baixa temperatura: -40 ~ 10 ℃
c. Faixa de flutuação de temperatura: ± 3 ℃
B Zona de alta temperatura:
Temperatura máxima de pré-aquecimento: +200 ℃
Tempo de aquecimento: temperatura normal até + 200 ° C em 30 minutos
C Zona de baixa temperatura:
Temperatura mínima pré-refrigerada: -50 ℃
b Tempo de resfriamento: temperatura normal até -50 ° C em 50 minutos
Tempo de recuperação de temperatura: 2 a 5 minutos
A caixa de teste de impacto de alta temperatura e baixa temperatura é controlada automaticamente pela válvula de ar de alta temperatura e baixa temperatura pelo instrumento, alternando entre a caixa de armazenamento de baixa temperatura ou alta temperatura, formando um sistema de circulação de ar de circuito fechado com a caixa de alta temperatura ou caixa de baixa temperatura, respectivamente, para atingir rapidamente a temperatura objetivo do teste.
O estado de temperatura dentro da caixa de teste de impacto de alta e baixa temperatura é determinado pelo estado de funcionamento dos aquecedores, evaporadores e ventiladores no canal de ar. No estúdio da caixa de teste, o fluxo axial forçado "disperso" do tipo de vento circular funciona, o que pode melhorar significativamente a volatilidade, a uniformidade e outros parâmetros do funcionamento do equipamento.
Isso é possível ajustando o controlador para a temperatura desejada. O controlador controla o aquecedor ou refrigerador para elevar ou baixar a temperatura do acumulador ou da estufa para o valor desejado e mantê-lo nesse valor de temperatura. Durante o experimento, O ar quente de alta estufa e o ar frio de baixa estufa são controlados pela abertura e fechamento das portas de ar para a área de ensaio, cujo estado é exibido no controlador.
