Espectrómetro de fluorescência de raios X

Espectrómetro de fluorescência de raios X (XRF) é um instrumento de análise sem danos baseado no princípio da fluorescência de raios X, amplamente utilizado na área de detecção de componentes elementares. Seu princípio básico é: raios-X de alta energia excitam átomos de elementos da superfície da amostra, fazendo com que a migração de elétrons da camada interna forme um buraco vazio, e os elétrons da camada externa preenchem a fluorescência de raios-X característica, capturando a energia de fluorescência e analisando através do detector, o tipo e o conteúdo de elementos na amostra podem ser detectados qualitativamente e quantitativamente rapidamente. O XRF tem as vantagens de não destruição, velocidade de análise rápida (uma única detecção leva apenas alguns segundos a alguns minutos), detecção sincrônica multi-elemento e outras vantagens, suportando várias formas de amostras, como sólidos, pó e líquidos, aplicáveis ​​à metalurgia, geologia, proteção ambiental, petroquímica e outras indústrias, é uma ferramenta importante para a ciência dos materiais e o controle de qualidade industrial.