Quebrar limites de amostragem de amostras Vol Microscópio de força atômica de varredura

O microscópio de força atômica de varredura de sonda (FM-Nanoview LS-AFM) quebra muitas restrições estruturais e de amostragem de microscópio de força atômica tradicional, é * comercializado em massa, pode realizar amostras imóveis, microscópio de força atômica de varredura móvel de sonda. Quebrar os limites anteriores do microscópio de força atômica sobre o tamanho e o peso das amostras. Ao mesmo tempo que a amostragem de amostras ultra-grandes é aplicada, a Flixman também aumenta a escalabilidade do banco de amostragem para permitir amostragens in situ combinadas com vários instrumentos. Microscópio de força atômica de varredura com sonda pode ser personalizado de acordo com as necessidades do cliente. Amplamente utilizado em estudos de amostragem de materiais semicondutores e materiais de grafeno.