O microscópio metálico posicional é um dispositivo essencial no campo da ciência dos materiais para observar a microestrutura de materiais metálicos e não metálicos, cujo princípio básico é baseado na imagem de reflexão óptica e na regulação mecânica de precisão, combinando a tecnologia fotoeletrônica moderna para obter análise de alta resolução.

Princípios básicos

O microscópio metálico posicional é projetado com um circuito de luz refletida, com a luz emitida pela fonte focalizando a superfície da amostra verticalmente. Metais e outros materiais opacos refletem a luz através da superfície, levando a luz da estrutura de grãos, interface de fase e outras informações microscópicas para o objetivo, após a primeira ampliação para formar uma imagem real invertida; A imagem real é ampliada por segunda vez através dos óculos, o que acaba formando uma imagem clara na retina do observador. Por exemplo, o microscópio de fase metálica posicional Olympus oferece uma resolução de nanoescala através do sistema óptico de correção de diferença de distância e objetos de distância de distância de campo plano para mostrar claramente o tamanho do grão, a distribuição de fase e as características de defeito. Seu sistema de iluminação suporta o duplo modo de transmissão e reflexão, adaptando-se a diferentes características da amostra.

Área de aplicação

Análise de tecidos de materiais: na indústria metalúrgica, é usado para identificar a composição fasal de materiais metálicos (por exemplo, aço, ligas) (ferrito, austenite, etc.), granularidade e distribuição de misturas não metálicas para avaliar o efeito do tratamento térmico. Por exemplo, os parâmetros do processo podem ser otimizados observando o tecido martenitico do aço temperado através de microscópios da série MIT300/500.

Controle de qualidade: na fabricação de semicondutores, detecção de defeitos de superfície do chip de silício, uniformidade da espessura da película fina; Na indústria eletrônica, analise a qualidade do revestimento da placa de circuito impresso para garantir o desempenho condutivo.

Análise de falhas: para fraturas metálicas, rastreie a causa da fratura observando a forma da fratura (por exemplo, ligamento, superfície de desligamento) e o caminho de expansão da fratura. Por exemplo, na análise de falhas de materiais aeronáuticos, o microscópio de posição pode localizar a fonte de rachaduras de fadiga.

Educação e Pesquisa Científica: os laboratórios universitários usam-no para realizar pesquisas básicas em ciência de materiais, como observar processos de transformação de fase de metais, formação de nanomateriais e auxiliar o desenvolvimento de novos materiais.

Vantagens técnicas

O design vertical facilita a operação de amostras grandes, combinado com vários padrões de observação, como campo claro, campo escuro, polarização e DIC, para atender às necessidades de análise estrutural de superfícies complexas. Alguns modelos integram sistemas de captura de imagens que suportam registro em tempo real e análise quantitativa, melhorando significativamente a eficiência da pesquisa.