Suzhou Jia Spectrum Tecnologia Co., Ltd.
Analisador de elementos fluorescentes de raios X de alta precisão / Empresa inovadora em tecnologia de ponta
Solução de análise de elementos de traço sensível e de alta confiabilidade. A empresa tem quatro plataformas de tecnologia de produtos portáteis, portáteis, laboratórios e on-line, principalmente aplicadas em áreas como materiais elétricos de lítio de nova energia, pesquisa de solo, monitoramento de qualidade da água, triagem de processamento agrícola, monitoramento de segurança alimentar e monitoramento on-line industrial.
O Dr. Chen Zewu, fundador da Suzhou Jia Spectrum Technology Co., Ltd., adquiriu tecnologia de invenção em países como a China, os Estados Unidos, o Japão e a União Europeia, respectivamente, desde a invenção de um cristal de curvatura de superfície dupla de alta eficiência em 1998. Dr. Chen Zewu liderou sua equipe para alcançar a ampla aplicação de cristal de curvatura de superfície dupla em espectrômetros de fluorescência de raios X, inventando duas rotas tecnológicas de XRF, MWDXRF e HPXRF, e sua linha de produtos; O detector de elementos fluorescentes de raios X de alta precisão da tecnologia de foco de luz monocromática de curvatura de superfície dupla, ou HDXRF, permite a análise precisa do espectrômetro de fluorescência de raios X na detecção de elementos.
Analisador de elementos fluorescentes de raios X de alta precisão (HPXRF)
Difusão de energia de foco monocromático XRF
Princípio de funcionamento: o tubo de raios-X emite raios-X, após a curvatura da superfície DCC para monocromatizar a fluorescência de raios-X e focar a irradiação na amostra a ser testada, a amostra produz fluorescência de raios-X característica secundária. Devido ao aumento da energia de fluorescência de raios-X após o foco monocromático e sem interferência de luz incolore, os vários elementos gerados pela amostra caracterizam a fluorescência de raios-X, após a resposta do cálculo do sinal do detector, produzindo excelentes limites de detecção e resultados quantitativos de alta precisão;
Cada matriz de amostra pode ser estabelecida com o método de parâmetros básicos FP ou o método de calibração de coeficientes empíricos.
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