Teste de circuito integrado de semicondutores 100fA

Em experimentos como caracterização de dispositivos semicondutores e nanoeletrônicos, medição de corrente de transistor, medição de resistência de material de alta resistência, propriedades elétricas de nanodispositivos, microscópio de sonda de varredura, quando o tamanho do dispositivo é reduzido ao nível nanométrico ou o material é muito fino, a corrente de vazamento e a corrente a medir em si são extremamente pequenas. Neste nível, os experimentadores precisam usar uma sonda com uma corrente inferior a 100 fA para combater uma variedade de ruído e interferência, incluindo ruído térmico, ruído Johnson-1, ruído vibratório e até mesmo a carga gerada pela ionização molecular no ar.