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instrumentb2bAplicação do artigo | Instrumento de fruta mesa de estiramento ultra-alta temperatura ajuda a pesquisa de nova tecnologia de raster resistente a alta temperatura!

Na área aeroespacial e energética, o estudo de mecanismos de deformação em microescala de materiais de alta temperatura é um tema central para garantir a confiabilidade dos equipamentos.


2024ano9Em maio, a equipe da Faculdade de Engenharia de Energia e Energia da Universidade Aeroespacial de PequimÓptica e Lases em EngenhariaA revista publicou importantes resultados de pesquisa, propôs métodos de preparação de raster resistente ao calor baseados em fotografia ultravioleta e processo de pulverização magnetrônica, e aplicou com sucesso a liga de alta temperatura monocristalina à base de níquel (NBSC(Em1000Medição de deformação em microescala a ℃. Instrumentos de fruta5000N 1200℃ mesa de estiramento ultra-alta temperatura como o equipamento principal, fornece suporte preciso para os experimentos de mecânica in situ de alta temperatura do estudo, ajudando a equipe de pesquisa a quebrar os gargalos da tecnologia de medição de alta temperatura.


Nome do artigo:Fabricação de grade resistente ao calor em microescala para medição in situ de deformação de alta temperatura pelo método de amostragem moiré"

Nome do periódico:Óptica e Lases em Engenharia"

Clientes:Universidade Aeroespacial de Pequim

Aplicações:Instrumento de fruta5000N 1200℃ Mesa de estiramento ultra alta temperatura

论文应用|果果仪器超高温拉伸台助力新型耐高温光栅技术研究!

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Características técnicas


A deformação plástica em microescala de ligas de alta temperatura à base de níquel a temperaturas ultraaltas afeta diretamente o mecanismo de falha do material, mas as rejas tradicionais falham facilmente a altas temperaturas, levando a uma precisão de medição insuficiente. A pesquisa precisa ser900~1000Aplique uma carga de alongamento à amostra no ambiente ℃ e capture sincronicamente os dados de deformação da rede. Isso sugere a precisão do controle de temperatura, a estabilidade da carga mecânica e a capacidade de resistência à interferência do equipamento experimental.exigências muito elevadas.


Instrumento de fruta5000N 1200℃ mesa de estiramento ultra-alta temperatura com as seguintes vantagens para se tornar o apoio fundamental da pesquisa:

1. Estabilidade de alta temperatura:Pode ser a temperatura ambiente até1200Temperatura de controle preciso dentro da faixa de ℃, flutuação de temperatura ≤ ±0.1℃, assegurando a observação estável do raster;

2. Carga mecânica de alta precisão:Carga máxima5000NVelocidade de carregamento0.1~500μm / minAjustável para atender às necessidades dinâmicas de medição de deformação em microns;


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Sistema de teste integrado de estiramento de temperatura ultraalta para instrumentos de fruta


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Empoderação Pesquisa


No estudo, a equipe usou um par de mesas de estiramento a temperatura ultraalta do instrumento de frutaNBSCAs amostras são submetidas a experimentos de aquecimento e estiramento in situ. O dispositivo aquece a amostra em tempo real através de elementos de aquecimento e termopares900mantendo a temperatura constante, ao mesmo tempo50 μm / minA taxa aplica uma carga de alongamento. Através da integração de microscópios ópticos digitais, os pesquisadores capturaram com sucesso imagens de deformação dinâmica de rastres resistentes ao calor a altas temperaturas e quantificaram a distribuição de campos de tensão com base na amostragem de nuvens.


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Imagem de deformação de raster resistente ao calor da amostra NBSC a 900 ℃ (superior) e distribuição diferencial de fase (inferior)


Os resultados do experimento indicam:

● A altas temperaturas de 1000 ° C, o raster ainda mantém a estrutura do ciclo completo de 8 μm de distância, sem diminuição significativa do contraste;

A rede está totalmente ligada ao fundo com cargas de estiramento de até 763,7 MPa, revelando com precisão a concentração de tensão e a evolução da correia deslizante na área simétrica de 45 ° abaixo da abertura.




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Mesa de estiramento de alta temperatura SEM


Faixa de temperatura:-190~600/ RT ~ 1200

Estabilidade de temperatura: ±0.1

Área de força:0 ~ 5000N

Precisão da força:0,5% FS

Distância:80 milímetros

Precisão de deslocamento: ±1μm





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