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instrumentb2bA 科技 de Guangzhou participará da Exposição Internacional de Semicondutores SEMICON 2025 _ Taipei Nangang Exhibition Hall 2025.9.10–12

光焱科技将出席 2025 SEMICON 国际半导体展|台北南港展览馆 2025.9.10–12

Tempo: 2025/9/10-9/12

Localização: 1º andar do Pavilhão de Exposições de Taipei Nangang, Taiwan, China

Estande da Enlitech: I2507


Enlitech participará da Semicon Taiwan 2025

Enlitech será10-12 de setembro de 2025presença emGaleria de Exposições de Taipei NangangOrganizado2025 Semicon Taiwan Exposição Internacional de Semicondutores- É.

Como um destaque na ÁsiaEvento da Indústria de Semicondutores, A Semicon Taiwan se concentra emProcessamento de chips, inovação de materiais, embalagens avançadas, sensores fotoeletrônicos e aplicaçõesAtrai a participação de fabricantes de chips, instituições de pesquisa e especialistas da indústria em todo o mundo.


Enlitech apresenta as mais recentes soluções de inspeção óptica de semicondutores

Manter"Teste óptico - o padrão para chips de alta velocidadeTeste óptico, definindo o desempenho real para os chips de alta velocidade "Tecnologia fotográfica (Enlitech)Foco no desenvolvimento avançadoEquipamento de teste óptico de semicondutoresAjudar pesquisadores e engenheiros a conhecer com precisãoChips de alta velocidade e sensores fotoelétricosdesempenho.

Nesta exposição, a Enlitech compartilhará os seguintes dispositivos:

  • do SPD2200: Nível ComercialTestador integrado de eficiência de diodos de avalanche SPAD


  • APD-QETestador óptico de eficiência quântica de sensores de luz avançados

  • SG-ATestador de sensores de imagem CMOS

Essas soluções de teste são amplamente utilizadas emChips de alta velocidade, fotônica, sensores fotoelétricosVerificação de eficácia e estudos inovadores.


Convidamos você a visitar o estande I2507 da Enlitech

em2025 Semicon TaiwanEnlitech irá fornecer soluções técnicas no local por uma equipe profissional para ajudá-lo a entender maisValor das aplicações de testes ópticos em semicondutores e fotoeletricidade- É.

Convidamos-lhe sinceramente.Estando I2507Comunique-se conoscoO futuro da inspeção óptica de semicondutores


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