Novos produtos | A nova série VersaXRM da ZEISS lidera uma nova era de digitalização rápida

Microscópio de raios-X VersaXRM 730 da ZEISS

Microscópio de raios-X VersaXRM 615 da ZEISS

Os dois novos produtos oferecem imagens de alta resolução e revestimento, além de suporte à expansão rápida de varredura para imagens de varredura 3D rápidas em 1 minuto, com software de controle de sistema ZEN navx e recursos avançados de reconstrução baseados em IA, inteligentes, simples e de alta qualidade e eficientes.

Os novos microscópios de raios-X VersaXRM 730 e VersaXRM 615 da ZEISS levarão os usuários de testes científicos e industriais a novos níveis de investigação inovadora na era da digitalização rápida.

●Detector de objetivos 40X-Prime sem medo de alta pressão

Resolução espacial até 450 nm

√3Resolução espacial de ≤500nm em tensão completa de 0kV a 160kV

√Desempenho de grande distância de trabalho em alta resolução (RaaD):

700nm@50mm

750nm@100mm

Sistema VersaXRM 730 com detector de objetivos 40X-Prime opcional

↓Caso de imagem

Software de controle de sistema inteligente e fácil de usar ZEN navx

A série de microscópios de raios-X VersaXRM da ZEISS utiliza um novo sistema de controle centrado no ser humano para tornar a operação mais simples e a imagem 3D mais eficiente.

√ Design de interfaces e processos centrados na pessoa, simplificação instantânea de operações complexas,

√Smartshield sistema anti-colisão inteligente, escolta para exploração experimental,

√ Recomendação de parâmetros totalmente automática, vários tipos de amostras podem obter imagens de alta qualidade,

√ Funções de software integradas para facilitar a coleta de dados e a reconstrução 3D automatizada.

● Caixa de ferramentas de reconstrução avançada baseada em IA

A gama completa VersaXRM vem com estações de trabalho de processamento de dados de alto desempenho e uma licença de 2 anos para a ferramenta de reconstrução avançada DeepRecon Pro. Inteligência Artificial Plusmelhorar ainda mais a qualidade e a eficiência da imagem.

↓Caso de imagem

●Novo modo FAST para captura rápida de dados 3D

Novo modelo de aquisição de dados baseado em Flat Panel Extension (FPX) e ZEN navx.

√A coleta de dados de projeção necessários para a reconstrução tridimensional da amostra em 1 minuto, melhorando significativamente a eficiência da imagem,

√ De grande campo de visão a alta resolução, para localização rápida e imagem ampliada.

●Novos e antigos usuários podem atualizar e expandir

Vale a pena ressaltar que, seguindo a filosofia de design consistente do microscópio de raios-x da ZEISS, os dois novos modelos de microscópio de raios-x continuam a manter suas características escaláveis ​​e atualizáveis ​​para maximizar o investimento de novos e antigos usuários e garantir que seu dispositivo não fique obsoleto para se adaptar à inovação contínua da tecnologia do futuro.

Rota de atualização do sistema de microimagem de raios-X da ZEISS