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Os produtos de feixe de íons focados sãoFerramentas essenciais para a transformação da Pesquisa e Desenvolvimento de Materiais de “orientados pela experiência” para “orientados pelos dados”EmCiências dos materiais, Ciências da vida, Inspeções industriais,SemicondutoresÁreas como análise de falhasdesempenha um papel insubstituível.，ECaracterização de alta qualidade, preparação de amostras e reconstrução 3DPositivoÉ a sua ampla e central aplicação- É.
A ZEISS continuou a aprofundar a estratégia de localização e, a partir do mercado chinês, lançou o novo eletroscópio de varredura de feixe de íons focado Crossbeam 330 para atender às necessidades de localização da pesquisa científica.O Crossbeam 330 foi projetado para cenas essenciais como caracterização de alta qualidade e preparação de amostras.Cobertura abrangente de imagem de alta qualidade / análise de secção, preparação de amostras TEM através da integração profunda de espelhos eletrônicos e de íons,Micro processamento、 Necessidades de aplicações como a caracterização 3D.O espelho magnético sem vazamento especialmente projetado e a tecnologia de redução no espelho podem ser facilmente adaptadas a amostras complexas como magnéticas e não condutoras, sem necessidade de pré-tratamento complexo, e podem ser monitoradas em tempo real durante o processo de processamento para obter caracterização de alta resolução e processamento preciso.
Três grandes.Especialidades：
01
“Forte” Caracterização：Imagens de alta qualidade e compatibilidade completa com amostras com o sistema óptico eletrônico clássico Gemini permitem que você obtenha excelência em FIBExperiência de imagem do SEM
02
Preparação "Rápida"：Boa capacidade de caracterização combinada com uma pistola iônica de alto fluxo para a preparação rápida de amostras de secção e caracterização de alta qualidade de estruturas sub-superficiais
03
"Fácil" TEM: ExtraordinárioO desempenho do feixe de íons garante a fácil preparação de amostras finas TEM de alta qualidade; Com processos de automação recém-desenvolvidos e software fácil de usar, o desafio da preparação de amostras de folhas finas TEM pode ser reduzido significativamente.
Desde a análise macro-holística até a investigação profunda dos mecanismos microscópicos, a pesquisa de ponta está se desenvolvendo rapidamente em uma direção multidimensional e multidimensional, e as necessidades de caracterização complexas e sistemáticas se tornaram características centrais na descoberta científica e inovação industrial, trazendo desafios reais como a fragmentação de dados, a operação onerosa de vários dispositivos e a fragmentação de processos analíticos.
Feixa cruzada 330 integra-se perfeitamente às soluções integradas de caracterização multimodal e trans-escala da ZEISS, com as vantagens únicas de caracterização de diferentes equipamentos, como microscópios ópticos de ligação profunda e microscópios de raios X, para automatização da escala centímetro a nanoescalaROI (retorno de investimento)Caracterização contínua e análise multimodal，Quebrar barreiras técnicas entre equipamentos，Solução sistemática para necessidades complexas de pesquisa.
Integração perfeita de pesquisas em múltiplas escalas para abordar sistematicamente necessidades complexas de pesquisa:
Processo de associação entre o microscópio de raios X e o eletroscópio de varredura de feixe iônico focado (XRM-FIB) para localização, exposição, caracterização e análise de poluentes da bateria
O novo eletroscópio de varredura de feixe de íons focado Crossbeam 330 da ZEISS, com suas excelentes capacidades de imagem e preparação de amostras, processos operacionais mais inteligentes e plataforma de integração multimodalNovos materiais, metais, novas energias, ciências da Terra, semicondutores eletrônicos e ciências da vidaAs áreas de ponta oferecem soluções de caracterização e processamento eficientes e confiáveis, que ajudam você a alcançar níveis mais elevados de inovação científica e atualização industrial.
