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Quarto 204-2, Edifício 2 Oeste, 1687, Rua Changyang
Caigonas Instruments Commercial (Shanghai) Co., Ltd.
Quarto 204-2, Edifício 2 Oeste, 1687, Rua Changyang
Sistema de medição de difusão térmica ACParâmetros técnicos:
1. fonte de alimentação AC: diodo laser (comprimento de onda 685nm, potência de saída 30mW)
Posição de irradiação: ± 3000 μm, comprimento de 1μm;
Frequência: 0.1 ~ 20Hz
Precisão da medição do coeficiente de difusão térmica: ± 5%
(Medição de uma amostra independente)
Tamanho da amostra: L 30mm, W 2,5 ~ 5mm t 3 ~ 500μm t 100 ~ 1000nm (película fina no substrato)
* O valor da espessura da amostra depende da sua condutividade térmica;
Tipo de termopar: termopar tipo E;
Atmosfera de teste: vácuo (<0.02Pa), atmosfera;
Temperatura ambiente (tipo R) Temperatura ambiente -200 ℃ (tipo M2)
Interface: RS232C
Requisitos de alimentação: AC100V, 15A;
Dimensões externas: W 350 x D 500 x H 330 (mm) host, excluindo partes salientes;
Sistema de medição de difusão térmica ACAplicação:
1. medir o coeficiente de difusão térmica dos materiais de placas finas de alta condutividade térmica; (espessura <500 μm) diamante CVD, nitreto de alumínio, etc.;
2. medir o coeficiente de difusão térmica de chapas metálicas finas; (espessura <5 μm) cobre, níquel, aço inoxidável, etc.;
Medir a taxa de difusão térmica de materiais com baixo coeficiente de condutividade térmica; (espessura < 50 μm) vidro, materiais de resina, etc.;
4. Medir o coeficiente de difusão térmica das placas de grafite de sexo oposto; (espessura < 100 μm) poliamida e polímeros finas como PET; (Espessura <5 μm)
Medir o coeficiente de difusão térmica do nitreto de alumínio e do óxido de alumínio depositados em substratos;
Medir o coeficiente de difusão térmica da película DLC depositada no substrato de vidro;
7. Medir a película de pigmento orgânico depositada no substrato PET;
Avaliação de vários materiais alvo de pulverização;
* As condições de medição podem mudar com o material e as propriedades físicas da amostra, o mencionado acima é um padrão amplo;
Medição do coeficiente de condutividade térmica da película fina
A condutividade térmica da película fina depositada no substrato pode ser obtida medindo o coeficiente de difusão térmica da área de revestimento e da área não revestida do mesmo lado do substrato. Os fatores que afetam a condutividade térmica do filme são:
Resultados da medição das áreas revestidas e não revestidas;
medir a espessura do substrato e sua capacidade térmica em relação ao volume;
espessura da película fina e sua capacidade térmica em relação ao volume;