Fonte de sinal AFG-303x e AFG-302x

A Solid Latitude Electronics lança os geradores de sinais de forma de onda arbitrária da série AFG-3000 para canais de isolamento único e duplo de 20MHz/30MHz, respectivamente, para a indústria, a pesquisa científica e a educação. No projeto de saída isolada, todos os canais de saída são isolados da terra e são adequados para aplicações de teste em circuitos flutuantes, como a saída de corrente contínua + CA até +42V ou -42V após a ligação em série com uma fonte de alimentação. Além disso, os canais duplos podem ser usados ​​separadamente ou para saída simultânea de vários instrumentos sem considerar a referência à terra, como o controlador de motor ou a transmissão para eletrônica automotiva, etc. Eles oferecem uma taxa de amostragem de 250 MSa/s, resolução de 16 bits e propriedades de forma de onda arbitrárias com profundidade de memória de 8 M de pontos. Além de baixar arquivos de formas de onda pré-editados para a memória para gerar formas de onda arbitrárias, os usuários podem usar a função DSOLink incorporada da série AFG-3000 para reproduzir os sinais medidos pelo osciloscópio digital de eletrônicos de latitude fixa.

A série AFG-3000 suporta operações de fase sincronizadas de vários canais, com sincronização de fase de até 6 e 12 canais. Os usuários podem inserir um padrão de frequência de relógio atômico de 10 MHz através de uma fonte externa de sinal para melhorar a precisão da saída de frequência. Suporta a varredura de frequência e a varredura de amplitude, que pode ser combinada com funções lineares / logarísticas, unidirecionais (ondas serradas) / bidirecionais (ondas triângulares), contínuas / disparadores únicos / disparadores de limite de porta em diferentes maneiras de varredura para atender a várias necessidades de aplicação. A varredura de frequência pode testar a resposta de frequência de componentes eletrônicos, como filtros e amplificadores de baixa frequência. A varredura de amplitude pode simular testes de vibração (em combinação com testes de vibração), testes de envelhecimento de fadiga em vários materiais e testes de linearidade em amplificadores de baixa frequência e muito mais.