Escritório XAFS

Durante muito tempo, a espectroscopia estrutural fina de absorção de raios-X (XAFS) só poderia ser testada em várias fontes de radiação sincrônica. Devido ao tempo limitado da máquina de fonte de luz, não é possível atender às necessidades de teste de muitos pesquisadores científicos. Nos últimos anos, os dados do XAFS se tornaram o “padrão” para os principais periódicos, levando um número crescente de grupos de assuntos a precisar de testes do XAFS. Com a ideia de permitir que o XAFS entre em cada laboratório, o Instituto de Física de Alta Energia da Academia de Ciências da China e a Universidade de Ciência e Tecnologia da China lançaram conjuntamente o novo espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios-X (RapidXAFS).

Escritório XAFSVantagens do produto:

Tem as seguintes características:

• Produtos com fluxo de luz máximo

  Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons / s / eV-4.000.000 fótons / s / eV, eficiência espectral várias vezes superior a outros produtos; Obter a mesma qualidade de dados que a sincronização da radiação

• Excelente estabilidade

  Estabilidade de intensidade de luz monocromática superior a 0,1% com deriva de energia de coleta repetida < 50 meV

• Limite de detecção de 1%

  O alto fluxo de luz, a excelente otimização do percurso óptico e a estabilidade da fonte de luz garantem que os dados EXAFS de alta qualidade ainda sejam obtidos quando o conteúdo de elementos medidos for > 1%

• Estrutura círcula dupla Roland

  Utilização inovadora da estrutura círcula de Roland dupla para caracterizar simultaneamente a estrutura local de dois elementos em uma única fonte de raios X
  

A estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma poderosa ferramenta para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente usada em áreas populares como catálise, energia e nanotecnologia.

Escritório XAFSAs principais vantagens são as seguintes:

1. Não depende de estruturas ordenadas de longo alcance e pode ser usado para a pesquisa de materiais não cristalinos;

2. Sem interferência de outros elementos, diferentes elementos do mesmo material podem ser estudados separadamente;

3. Sem danos à amostra, testado no ambiente atmosférico, pode ser testado in situ;

4. Não afetado pelo estado da amostra, pode medir sólidos (cristais, pó), líquidos (solução, estado de fusão) e gases, etc.;

5. Pode obter parâmetros estruturais como o tipo de átomo de distribuição, número de distribuição e espaço atômico, com precisão de espaço atômico de até 0,01A.

Design de estrutura círcula de rolante duplo

Comparável à resolução de radiação sincronizada

O teste XES distingue entre N, C e O

O espectro XAFS consiste principalmente em duas partes: estruturas periféricas de absorção de raios X (XANES) e estruturas finas de absorção de raios X estendidas (EXAFS). A faixa de energia do EXAFS é de aproximadamente 50 eV a 1000 eV após a borda de absorção, como resultado do efeito de dispersão única de um único elétron entre os átomos circundantes e os átomos absorventes, provocados por raios X. O XANES inclui um intervalo de cerca de 10 eV antes da borda de absorção a cerca de 50 eV após a borda de absorção, principalmente devido ao efeito de dispersão múltipla de um único elétron entre os átomos circundantes e os átomos absorventes, estimulados por raios X.

Elementos medidos: lado K medido em parte verde, lado L medido em parte amarela

Aplicações XAFS:

• Catálise industrial

• Materiais de armazenamento de energia

• Nanomateriais

• Toxicidade ambiental

• Análise de qualidade também

• Análise de elementos pesados