E4980BL EUA KEYSIGHT é a ponte de LCR

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E4980BL EUA KEYSIGHT é a ponte de LCR

E4980BL 20 Hz a 300 kHz com resistência de corrente contínua (DCR)

E4980BL de 20Hz a 300kHz com capacidade de medição de resistência de corrente contínua (DCR) e interface de processador

E4980BL 20 Hz a 500 kHz com resistência de corrente contínua (DCR)

E4980BL 20Hz a 1 MHz com resistência de corrente contínua (DCR)

E4980B 20Hz a 2 MHz com resistência de corrente contínua (DCR)

Frequências de 20 Hz a 300 kHz/500 kHz/1 MHz com resolução de quatro dígitos em qualquer intervalo

Precisão básica de 0,05% com excelente repetibilidade de medição em condições de baixa e alta impedância

100 microvolts a 2 volts de raiz quadrada média; Sinal de teste variável de 1 mA a 20 mA

Preenchimento de corrente contínua 1,5 / 2 V

Controle automático de nível

Resistência DC

201 pontos lista medição varredura

Conexão PC multifuncional (LAN, USB e GPIB)

Atualização de frequência

O LCR de precisão E4980BL é um medidor LCR padrão da indústria que combina precisão, velocidade e versatilidade para uma ampla gama de medições de componentes. Seu programa de atualização de frequência opcional oferece aos usuários opções de investimento fortes e opções para melhorar a utilização de ativos.

A base E4980BL é adequada para testes convencionais de R&D e fabricação de componentes e materiais, oferecendo velocidades de medição rápidas e excelente desempenho em intervalos de baixa e alta impedância.

Conexões multifuncionais de LAN, USB e GPIB para PC melhoram a eficiência do seu projeto e teste. Na medição de materiais, o E4980BL é usado com o kit de medição de materiais de DE N1500A-005/006 para simplificar todo o processo, desde a configuração do fixador até a geração de relatórios.

Parâmetros de medição

Cp-D, Cp-Q, Cp-G e Cp-Rp

Cs-D, Cs-Q e Cs-Rs

Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp e Lp-Rdc

Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs e Ls-Rdc

– R-X

Z-QD e Z-QR

– G-B

– Y-QD e Y-QR

– Vdc-Idc1

Definição

Cp Valor de capacitação medido pelo modelo de circuito equivalente paralelo

Cs Valor de capacitação medido por meio de um modelo de circuito equivalente em série

Lp Valor de indução medido pelo modelo de circuito equivalente paralelo

Ls Valor de indução medido pelo modelo de circuito equivalente em série

D Fator de perda

Factor de Qualidade Q (inverso de D)

G Condutores elétricos paralelos equivalentes medidos por meio de um modelo de circuito equivalente paralelo

Rp Resistência paralela equivalente medida pelo modelo de circuito equivalente paralelo

Rs Resistência em série equivalente medida pelo modelo de circuito equivalente em série

Resistência Rdc

R resistência

X resistência

Impedência Z

Guia Y

QD Impedência/Ángulo de fase do condutor (ângulo)

Impedência qr/ângulo de fase do condutor (radians)

Eletrônico B

Tensão DC Vdc

Corrente Idc

Funcionalidade de medição do desvio: o desvio do valor de referência e a percentagem do desvio do valor de referência podem ser exibidos como resultado.

Circuito equivalente de medição: paralelo, em série

Seleção do intervalo de impedância: Automático (modo de intervalo automático), Manual (modo de intervalo mantido)

Modos de acionamento: acionamento interno (INT), acionamento manual (MAN), acionamento externo (EXT), acionamento GPIB (BUS)

E4980BL EUA KEYSIGHT é a ponte de LCRIndicadores técnicos básicos

Intervalo de retardo de acionamento 0 s - 999 s

Resolução 100 µs (0 s - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

Tabela 2. Atraso gradual

Intervalo 0 s - 999 s

Resolução 100 µs (0 s - 100 s)

1 ms (100 s - 999 s)

Terminais de medição: par de quatro terminais

Comprimento do cabo de teste: 0 m, 1 m, 2 m, 4 m

Modos de tempo de medição: modo curto (SHORT), modo médio (MED) e modo longo (LONG).

Tabela 3. Média

Intervalo 1 - 256 medições

Resolução 1

Sinal de teste

Tabela 4. Frequência de teste

Frequência de teste 20 Hz - 2 MHz (E4980B)

20 Hz - 1 MHz (E4980BL-102)

20 Hz - 500 kHz (E4980BL-052)

20 Hz - 300 kHz (E4980BL-032)

Resolução 0,01 Hz (20 Hz - 99,99 Hz)

0.1 Hz (100 Hz - 999.9 Hz)

1 Hz (1 kHz - 9.999 kHz)

10 Hz (10 kHz - 99,99 kHz)

100 Hz (100 kHz - 999.9 kHz)

1 kHz (1 MHz - 2 MHz)

Precisão de medição ± 0,01%

Tabela 5. Modo de sinal de teste

Normal Ao medir o circuito aberto ou curto do terminal, o programa seleciona a tensão ou corrente separadamente.

Constante A tensão ou corrente selecionada é mantida no dispositivo a medir, independentemente da mudança da impedância do dispositivo a medir.

Tabela 6. Tensão do sinal de teste

Faixa 0 Vrms - 2.0 Vrms

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0,2 Vrms)

200 µVrms (0,2 Vrms - 0,5 Vrms)

500 µVrms (0,5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

Precisão Normal ± (10% + 1 mVrms) Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico

Frequência de teste constante de 1 ± (6% + 1 mVrms) ≤ 1 MHz: indicadores técnicos

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico

Tabela 7. Teste de corrente de sinal

Intervalo 0 Arms - 20 mArms

Resolução 1 µArms (0 Arms - 2 mArms)

2 µArms (2 mArms - 5 mArms)

5 µArms (5 mArms - 10 mArms)

10 µArms (10 mArms - 20 mArms)

Precisão Normal ± (10% + 10 µArms) Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico

Frequência de teste constante de 1 ± (6% + 10 µArms) ≤ 1 MHz: indicadores técnicos

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico

Impedência de saída: 100 Ω (valor nominal)

Monitoramento de nível de sinal de teste

– Pode monitorar a tensão e corrente do sinal de teste.

Precisão de monitoramento de nível:

Tabela 8. Precisão de monitoramento de tensão de sinal de teste (Vac)

Tensão do sinal de teste2 Frequência de teste Indicadores técnicos

5 mVrms - 2 Vrms ≤ 1 MHz ± (3% das leituras + 0,5 mVrms)

> 1 MHz ± (6% das leituras + 1 mVrms)

Tabela 9. Precisão de monitoramento de corrente de sinal de teste (lac)

Corrente de sinal de teste2 Frequência de teste Indicadores técnicos

50 µArms - 20 mArms ≤ 1 MHz

> 1 MHz

± (3% da leitura + 5 µArms)

± (6% das leituras + 10 µArms)

1. Quando a função de controle automático de nível está ativada.

Este não é o valor de saída, mas o nível do sinal de teste exibido.

A Tabela 10 lista os intervalos de medições que podem ser exibidos na tela. Para a faixa de medição efetiva, veja a impedância na Figura 1

Exemplos de precisão de medição.

Tabela 10. Intervalo de exibição dos valores de medição permitidos

Parâmetros Medição da gama de exibição

Cs, Cp ± 1,000000 aF até 999,9999 EF

Ls, Lp ±1,000000 aH até 999,9999 EH

D ±0.000001 至 9.999999

Q ±0,01 a 99999,99

R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ± 1,000000 aΩ a 999,9999 EΩ

G, B, Y ±1,000000 aS até 999,9999 ES

Vdc ±1,000000 aV to 999.9999 EV

Idc ±1.000000 aA 至 999.9999 EA

qr ±1,000000 arad para 3,141593 rad

QD ± 0,0001 grau 至 180.0000 deg

∆% ±0.0001% 至 999.9999%

a： 1 x 10-18、 E: 1 x 1018

Precisão de medição absoluta

A precisão absoluta é calculada usando a seguinte equação.

|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B com precisão absoluta Aa (quando Dx ≤ 0,1, as precisões de L, C, X e B são adequadas)

Quando Qx ≤ 0,1, as precisões R e G se aplicam)

Quando Dx ≥ 0,1, multiplique Acal por √1+D2x para obter precisões L, C, X e B

Quando Qx ≥ 0,1, multiplique Acal por √1+Q2x para obter a precisão R e G.

No campo magnético de comunicação, as seguintes equações podem ser usadas para calcular a precisão da medição.

A x (1 + B x ( 2 + 0.5 / Vs))

onde a precisão absoluta

B Força de indução magnética [Gauss]

Nível de tensão do sinal de teste [V]

Fórmula 1: Aa = Ae + Acal

Aa Precisão absoluta (% das leituras)

Ae Precisão relativa (% das leituras)

Precisão de calibração Acal (%)

Neste caso, a precisão G é aplicável apenas para medições G-B.

D Precisão (quando Dx ≤ 0,1)

Fórmula 2: De+qcal

Valor de D medido por Dx

Precisão relativa de D

Precisão de calibração de qcal q (em radians)

Quando 0,1 < Dx ≤ 1, multiplique por qcal por (1 + Dx)

Precisão Q (quando Qx × Da < 1)

Fórmula 3: (Qx2 × Da)

± ————————————

(1 ± Qx × Da)

O valor Q medido por Qx

Precisão absoluta da D

q Precisão

Fórmula 4: QE + QCAL

Precisão relativa de q (ângulo)

Precisão de calibração de qcal q (ângulo) Precisão G (quando Dx ≤ 0,1)

Fórmula 5: Bx + Da (S)

1

BX = 2 πfcx = — — —

2πfLx

Valor de D medido por Dx

Valor de B medido por Bx (S)

Precisão absoluta da D

f Frequência de medição (Hz)

Valor de C medido por Cx (F)

Valor L medido por Lx (H)

Neste caso, a precisão G é aplicável à medição Cp-G.

Precisão absoluta de Rp (quando Dx ≤ 0,1)

Fórmula 6: Rpx x Da

±—————————(Ω)

Dx ± Da

Valor de Rp medido por Rpx (Ω)

Valor de D medido por Dx

Precisão absoluta da D

Precisão absoluta de Rs (quando Dx ≤ 0,1)

Fórmula 7:Xx × Da(Ω)

1

Xx = ——————= 2πfLx

2 πfcx

Valor de D medido por Dx

Valor de X medido por Xx (Ω)

Precisão absoluta da D

Frequência de teste (Hz)

Valor de C medido por Cx (F)

Valor L medido por Lx (H)

Quando o resultado do cálculo for negativo, aplique 0 A.

Precisão relativa

A precisão relativa inclui estabilidade, coeficiente de temperatura, linearidade, repetitividade e erros de interpolação de calibração. A precisão relativa é determinada quando todas as seguintes condições são cumpridas:

– Tempo de pré-aquecimento: 30 minutos

Comprimento do cabo de teste: 0 m, 1 m, 2 m ou 4 m (Keysight 16048A/D/E)

– Não foi exibido o aviso de "sobrecarga de fonte de sinal".

Quando a corrente do sinal de teste excede os valores da tabela 11 abaixo, a tabela LCR exibe um aviso de sobrecarga da fonte do sinal.

Tabela 11.

Tensão do sinal de teste Frequência de teste Condição 1

≤ 2 Vrms – –

> 2 Vrms ≤ 1 MHz 110 mA 或 130 mA - 0,0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) ×

(L_cable + 0.5)， Obter um valor menor

> 1 MHz 70 mA - 0,0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) × (L_cable + 0,5)

Vac [V] Tensão do sinal de teste

Fm [Hz] Frequência de teste

L_cable [m] Comprimento do cabo

Correções de circuito aberto e curto foram feitas.

– Isolamento de corrente de viés: desligado

– A corrente de desvio de corrente contínua não excede os valores definidos dentro de cada faixa de corrente de desvio de corrente contínua

– Escolha a melhor faixa de impedância combinando a impedância do dispositivo medido com a faixa de medição efetiva.

|Z|, |Y|, L, C, R, X, G e B (quando Dx ≤ 0,1, as precisões L, C, X e B se aplicam; Quando Qx ≤ 0,1, as precisões R e G se aplicam)

Quando Dx > 0,1, multiplique Ae por √1+D2x para obter precisões L, C, X e B.

Quando Qx > 0,1, multiplique Ae por √1+Q2x para obter precisão R e G.

A precisão relativa Ae é calculada da seguinte forma:

Fórmula 8: Ae = [Ab + Zs /|Zm| × 100 + Yo × |Zm| × 100 ] × Kt

Zm Impedência do dispositivo medido

Ab Precisão básica

Deslocamento de curto-circuito Zs

Yo desvio aberto

Kt Coeficiente de temperatura

D Precisão

Quando Dx ≤ 0,1, a precisão de D é calculada da seguinte forma:

Fórmula 9: De = ±Ae/100

Valor de D medido por Dx

Precisão relativa para Ae | Z|, |Y|, L, C, R, X, G e B

Quando 0,1 < Dx ≤ 1, multiplique por De (1 + Dx)

Precisão Q (quando Q x De < 1)

Q Precisão Qe é calculado da seguinte forma:

Fórmula 10: (Qx2 × De)

Qe = ± —————————————

(1 ± Qx × De)

O valor Q medido por Qx

Precisão relativa D

q Precisão

A precisão q θ e é calculada da seguinte forma:

Fórmula 11: 180 × Ae

q = (grau)

π × 100

Precisão relativa para Ae | Z|, |Y|, L, C, R, X, G e B

G Precisão (quando Dx ≤ 0,1)

G Precisão Ge é calculada da seguinte forma:

Fórmula 12: Ge = Bx × De (S)

1

BX = 2 πfcx = — — —

2πfLx

Ge G Precisão relativa

Valor de D medido por Dx

Valor de B medido por Bx

De D Precisão relativa

Frequência de teste (Hz)

Valor de C medido por Cx (F)

Valor L medido por Lx (H)

Precisão Rp (quando Dx ≤ 0,1)

Precisão Rp Rpe é calculado da seguinte forma:

Fórmula 13: Rpx × De(Ω)

Rpe = ± ———————————

Dx ± De

RP Precisão relativa

Valor de Rp medido por Rpx (Ω)

Valor de D medido por Dx

Precisão relativa de D

Precisão Rs (quando Dx ≤ 0,1)

Rs Precisão Rse é calculado da seguinte forma:

Fórmula 14:Rse = Xx × De(Ω)

1

Xx = ————————= 2πfLx

2 πfcx

Precisão relativa de Rse Rs

Valor de D medido por Dx

Valor de X medido por Xx (Ω)

Precisão relativa de D

Frequência de teste (Hz)

Valor de C medido por Cx (F)

Valor L medido por Lx (H)

Exemplo de cálculo de precisão C-D

Condições de medição

Frequência de teste: 1 kHz

Valor de C medido: 100 nF

Tensão do sinal de teste: 1 Vrms

Tempo de medição: MED

Temperatura de medição: 23°C

Ab = 0.05%

|Zm| = 1 / (2π × 1 × 103 × 100 × 10-9) = 1590 Ω

Zs = 0,6 m Ω × (1 + 0.400/1) × (1 + √(1000/1000) = 1.68 m Ω

Yo = 0,5 nS × (1 + 0,100/1) × (1 + √(100/1000) = 0,72 nS

C 精度： Ae = [0,05 + 1,68 m/1590 × 100 + 0,72 n × 1590 × 100] × 1 = 0,05%

Precisão: De = 0,05/100 = 0,0005

Efeito da impedância do dispositivo medido

Tabela 14. Quando a impedância do dispositivo medido for inferior a 30 Ω, adicione os seguintes valores.

Frequência de teste [Hz] Impedência do dispositivo a ser medido

1,08 Ω ≤ |Zx| < 30 Ω |Zx| < 1,08 Ω

20 - 1 M 0.05% 0.10%

1 M - 2 M 0.10% 0.20%

Tabela 15. Quando a impedância do dispositivo medido for superior a 9,2 k Ω, adicione os seguintes valores.

Frequência de teste [Hz] Impedência do dispositivo em teste

9,2 kΩ < |Zx| ≤ 92 kΩ 92 kΩ < |Zx|

10 k - 100 k 0% 0.05%

100 k - 1 M 0.05% 0.05%

1 M - 2 M 0.10% 0.10%

Efeitos da extensão do cabo

À medida que o cabo é estendido, a cada metro são adicionados os seguintes elementos.

0,015 % × (Fm/1 MHz) 2 × (L_cable) 2

Fm [Hz] Frequência de teste

L_cable [m] Comprimento do cabo

Desviés de curto-circuito Zs

Tabela 16. Impedância do dispositivo medido > 1,08 Ω

Teste

Frequência [Hz]

Modo de tempo de medição

Short Med, Longo

20 - 2 M 2.5 m Ω × (1 + 0,400 / Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

0,6 mΩ × (1 + 0,400 / Vs) ×

(1 + √(1000/Fm))

Tabela 17. Impedência do dispositivo medido ≤ 1,08 Ω

Teste

Frequência [Hz]

Modo de tempo de medição

Short Med, Longo

20 - 2 M 1 m Ω × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm)) 0,2 m Ω × (1 + 1 / Vs) × (1 + √ (1000 / Fm))

Vs [Vrms] Tensão do sinal de teste

Fm [Hz] Frequência de teste

Efeito da extensão do cabo (desvio de curto-circuito)

Tabela 18. Quando o cabo é estendido, o Zs aumenta os seguintes valores (independentemente do modo de tempo de medição).

Teste

Frequência [Hz]

Comprimento do cabo

0 m 1 m 2 m 4 m

20 - 1 M 0 0.25 m Ω 0.5 mΩ 1 mΩ

1 M - 2 M 0 1 m Ω 2 mΩ 4 mΩ

Desorientação Yo

Tabela 19. Tensão do sinal de teste ≤ 2.0 Vrms

Teste

Frequência [Hz]

Modo de tempo de medição

Short Med, Longo

20 - 100 k 2 nS × (1 + 0,100 / Vs) × (1 + √ (100 / Fm)) 0,5 nS × (1 + 0,100 / Vs) × (1 + √ (100 / Fm))

100 k - 1 M 20 nS × (1 + 0,100/Vs) 5 nS × (1 + 0,100/Vs)

1 M - 2 M 40 nS × (1 + 0,100 / Vs) 10 nS × (1 + 0,100 / Vs)

Tabela 20. Tensão do sinal de teste > 2.0 Vrms

Teste

Frequência [Hz]

Modo de tempo de medição

Short Med, Longo

Precisão da medição

O exemplo de cálculo de medição de impedância abaixo é o resultado da precisão absoluta da medição.

Figura 1. Precisão da medição da impedância (tensão do sinal de teste = 1 Vrms, comprimento do cabo = 0 m, modo de tempo de medição = MED)

Função de compensação

Tabela 28. O E4980A oferece três funções de compensação: compensação de circuito aberto, compensação de curto-circuito e compensação de carga.

Tipo de compensação Descrição

Compensação de circuito aberto Compensação de erros causados ​​pelo condutor disperso (C, G) do aparelho de teste.

Compensação de curto-circuito Compensação de erros causados pela impedância residual (L, R) do dispositivo de teste.

Compensação de carga Compensa o erro entre a medição real e o valor padrão conhecido nas condições de medição necessárias pelo usuário.

Varredura de lista

Pontos: O máximo é de 201 pontos.

Primeiro parâmetro de varredura (parâmetro único): Frequência de teste, tensão do sinal de teste, corrente do sinal de teste, tensão do sinal de teste para o sinal de desvio de corrente contínua, corrente do sinal de teste para o sinal de desvio de corrente contínua, tensão de alimentação de corrente contínua.

Segundo parâmetro de varredura (parâmetro secundário): Nenhum, intervalo de impedância, frequência de teste, frequência do sinal de teste, tensão do sinal de teste, corrente do sinal de teste, tensão do sinal de teste para o sinal de desvio de corrente contínua, corrente do sinal de teste para o sinal de desvio de corrente contínua, tensão de alimentação de corrente contínua

Modo de acionamento

Modo sequencial: Uma vez que o E4980A é acionado, ele mede o dispositivo em todos os pontos de digitalização. O /EOM/INDEX é exibido apenas uma vez.

Modo passo a passo: Cada vez que o E4980A é acionado, o ponto de digitalização aumenta. A saída /EOM/INDEX é feita em cada ponto, mas a função de comparador de escaneamento de lista só fornece resultados após a última saída /EOM.

explicação

Os parâmetros selecionados para um dos dois parâmetros não podem mais ser selecionados para o outro. Não é possível definir uma combinação de tensão do sinal de teste e corrente do sinal de teste ou uma combinação de tensão do sinal de teste de um sinal de desvio de corrente contínua e corrente do sinal de desvio de corrente contínua.

Os parâmetros secundários só podem ser definidos através do comando SCPI.

Comparador para varredura de listas: O Comparador permite definir um par de limites superiores e inferiores para cada ponto de medição.

Você pode escolher: julgar pelo primeiro parâmetro de varredura / julgar pelo segundo parâmetro / não para cada par

limite.

Funcionalidade de carimbo de tempo: no modo sequencial, o tempo em que o FW detecta o sinal de acionamento pode ser definido como 0 para registrar cada

A hora de início da medição no ponto de medição, que é obtida pelo comando SCPI.

Função do comparador

Ordenação de Bin: os parâmetros podem ser ordenados em 9 BIN, OUT_OF_BINS, AUX_BIN e LOW_C_

REJECT。 Os parâmetros secundários são HIGH, IN e LOW. O modo de ordem e o modo de limitação podem ser selecionados como modelos de classificação.

Configurações de limite: Valores absolutos, desvios e desvios em % podem ser usados nas configurações.

Contagem de BIN: pode ser gravada de 0 a 999999.

Sinal de desvio de corrente contínua

Tabela 29. Tensão do sinal de teste

Faixa de 0 V a +2 V

Resolução Somente 0 V / 1,5 V / 2 V

精度 0.1% + 2 mV (23°C ± 5°C)

(0,1% + 2 mV) × 4

(0 a 18°C ou 28 a 55°C)

Impedência de saída: 100 Ω (valor nominal)

Funções de medição auxiliares

Cache de dados: até 201 medições podem ser lidas por lote.

Salvar/chamar funções:

Até 10 condições de configuração podem ser escritas ou lidas na memória não volátil incorporada.

Até 10 condições de configuração podem ser escritas ou lidas na memória USB.

– Execute a função de chamada automática ao gravar as condições de configuração no registro 10 da memória USB.

Função de bloqueio de teclas: As teclas do painel frontal podem ser bloqueadas.

GPIB: Pin D-Sub (tipo D-24), cabeça vaginal; Conforme aos padrões IEEE488.1, 2 e SCPI

Porta host USB: tomada de barramento serial universal, Tipo-A (4 posições de contato, contato 1 à sua esquerda),

Cabeça (apenas para conectar a memória USB).

Porta de interface USB: tomada de barramento serial universal, Tipo Mini-B (4 posições de contato); Compatível com os padrões USBTMC-USB488 e USB 2.0; cabeça; Utilizado para conectar controladores externos.

USBTMC: Abreviatura da Classificação de Testes e Medições USB

LAN: 10/100 BaseT Ethernet, 8 pinos (duas opções de velocidade)

Consistencia LXI: Classe C (disponível apenas para dispositivos com firmware versão A.02.00 ou posterior)

explicação

As seguintes memórias USB podem ser usadas.

Compatível com o padrão USB 1.1; categoria de memória de grande capacidade,

Formatos FAT16/FAT32; A corrente máxima de consumo é inferior a 500 mA.

Memória USB recomendada: 4 GB de memória flash USB

(Keysight PN 1819-0637) e flash USB de 16 GB

Keysight PN 1819-1235 (em inglês).

Usando a memória USB recomendada especificamente para o E4980A,

Caso contrário, os dados salvos anteriormente podem ser apagados. Se você não

Existe o uso de memória USB recomendada, então os dados podem não estar disponíveis

A lei é salva ou chamada normalmente.

A DETECH não é responsável pela perda de dados de memória USB decorrente do uso do E4980A.

Opções de frequência

E4980A 20 Hz a 2 MHz

E4980AL-032 20 Hz 至 300 kHz

E4980AL-052 20 Hz 至 500 kHz

E4980AL-102 20 Hz a 1 MHz

Tabela 30. Opções de instalação

Opção E4980A E4980AL

Aumento do viés de alimentação e corrente contínua (001) Instalável Não Instalável

Medição DCR (200) Instalável 1 Não Instalável 2

Interface robótica (201) Instalável Instalável

Interface do scanner (301) Instalável Instalável

Opções da interface

Opção 201 (interface de robô)

Aumentar a interface de robôs.

Opção 301 (interface do scanner)

Aumentar a interface do scanner.

Opção 710 (sem interface)

Opções sem interface.

Até duas opções de interface podem ser instaladas no conector de interface do painel traseiro.

Se a interface não for instalada, instale duas opções 710. Ao instalar uma interface, instale a interface com o número de opção e um

Opção 710.

Outras opções

Opção 001 (aprimoramento do viés de alimentação e corrente contínua)

Aumente a tensão do sinal de teste e aumente a tensão de desvio de corrente contínua variável.

Opção 007 (modelo padrão)

Atualize o modelo de nível inicial para o modelo padrão (apenas para o E4980AU).

Opção 200 (medição DCR)

Aumentar a medição DCR.

1. Opções obrigatórias

A função de medição DCR é fornecida por padrão.

explicação

A opção 007 só pode ser instalada no E4980A com a opção 005

No meio.

explicação

O E4980A-200/001 e o E4980AL-032/052/102 suportam medições DCR.

Indicadores técnicos de melhoria do viés de energia e corrente contínua

Aumente a tensão do sinal de teste e aumente a capacidade de tensão de desvio de corrente contínua variável.

A função de medição Vdc-Idc está disponível após a instalação da opção 001.

Parâmetros de medição

Os seguintes parâmetros podem ser usados.

– Lp-Rdc

– Ls-Rdc

– Vdc-Idc

Dos quais

Resistência Rdc (DCR)

Tensão DC Vdc

Corrente Idc

Sinal de teste

Nível do sinal

Tabela 31. Tensão do sinal de teste

Faixa de 0 a 20 Vrms (frequência de teste ≤ 1 MHz)

0 a 15 Vrms (frequência de teste > 1 MHz)

分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0,2 Vrms)

200 µVrms (0,2 Vrms - 0,5 Vrms)

500 µVrms (0,5 Vrms - 1 Vrms)

1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)

2 mVrms (2 Vrms - 5 Vrms)

5 mVrms (5 Vrms - 10 Vrms)

10 mVrms (10 Vrms - 20 Vrms)

Precisão de configuração Normal ± (10% + 1 mVrms) (Tensão do sinal de teste ≤ 2 Vrms)

(Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos, frequência de teste > 1 MHz: valores típicos)

±(10% + 10 mVrms) (Frequência de ensaio ≤ 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 2 Vrms (indicadores técnicos)

±(15% + 20 mVrms) (Frequência de teste > 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 2 Vrms)

(Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos, frequência de teste > 1 MHz: valores típicos)

Constante 1 ± (6% + 1 mVrms) (Tensão do sinal de teste ≤ 2 Vrms)

(Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos, frequência de teste > 1 MHz: valores típicos)

±(6% + 10 mVrms) (Frequência de ensaio ≤ 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 2 Vrms (indicadores técnicos)

±(12% + 20 mVrms) (Frequência de teste > 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 2 Vrms) (Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos,

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico)

1. Quando a função de controle automático de nível está ativada.

Teste de corrente de sinal

Intervalo 0 Arms - 100 mArms

Resolução 1 µArms (0 Arms - 2 mArms)

2 µArms (2 mArms - 5 mArms)

5 µArms (5 mArms - 10 mArms)

10 µArms (10 mArms - 20 mArms)

20 µArms (20 mArms - 50 mArms)

50 µArms (50 mArms - 100 mArms)

Precisão de configuração Normal ± (10% + 10 µArms) (Tensão do sinal de teste ≤ 20 mArms)

(Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos, frequência de teste > 1 MHz: valores típicos)

±(10% + 100 µArms) (Frequência de teste ≤ 300 kHz,

Corrente de sinal de teste > 20 mArms (indicadores técnicos)

±(15% + 200 µArms) (Frequência de teste > 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 20 mArms) (Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos,

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico)

Constante 1 ± (6% + 10 µArms) (Tensão do sinal de teste ≤ 20 mArms)

(Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos, frequência de teste > 1 MHz: valores típicos)

±(6% + 100 µArms) (Frequência de ensaio ≤ 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 20 mArms (indicadores técnicos)

±(12% + 200 µArms) (Frequência de teste > 300 kHz,

Tensão do sinal de teste > 20 mArms) (Frequência de teste ≤ 1 MHz: indicadores técnicos,

Frequência de teste > 1 MHz: valor típico)

Monitoramento de nível de sinal de teste

– Pode monitorar a tensão do sinal de teste e a corrente do sinal de teste.

Precisão de monitoramento de nível:

Tabela 33. Precisão de monitoramento de tensão de sinal de teste (Vac)

Tensão do sinal de teste2 Frequência de teste Indicadores técnicos

5 mVrms a 2 Vrms ≤ 1 MHz ± (3% das leituras + 0,5 mVrms)

> 1MHz ± (6% das leituras + 1 mVrms)

> 2 Vrms ≤ 300 kHz ± (3% das leituras + 5 mVrms)

> 300 kHz ± (6% das leituras + 10 mVrms) 3

Tabela 34. Exatidão de monitoramento de corrente de sinal de teste (Iac)

Corrente de sinal de teste2 Frequência de teste Indicadores técnicos

50 µArms a 20 mArms ≤ 1 MHz ± (3% da leitura + 5 µArms)

> 1MHz ± (6% das leituras + 10 µArms)

> 20 mArms ≤ 300 kHz ± (3% das leituras + 50 µArms)

> 300 kHz ± (6% das leituras + 100 µArms)

1. Quando a função de controle automático de nível está ativada.

Este não é o valor de saída, mas o nível do sinal de teste exibido.

Frequência de teste > 1 MHz e tensão de sinal de teste >

Valor típico em 10 Vrms.

Sinal de desvio de corrente contínua

Tabela 35. Tensão do sinal de teste

Faixa de –40 V a +40 V

Resolução Resolução definida: 100 µV, resolução efetiva:

330 µV ±(0 V - 5 V)

1 mV ±(5 V - 10 V)

2 mV ±(10 V - 20 V)

5 mV ±(20 V - 40 V)

Precisão Tensão do sinal de teste ≤ 2 Vrms 0,1% + 2 mV (23 ° C ± 5 ° C)

(0.1% + 2 mV) x 4

(0 a 18°C ou 28 a 55°C)

Tensão do sinal de ensaio > 2 Vrms 0,1% + 4 mV (23°C ±5°C)

(0.1% + 4 mV) x 4

(0 a 18°C ou 28 a 55°C)

Tabela 36. Teste de corrente de sinal

Faixa – 100 mA – 100 mA

Resolução Definição de resolução: 1 µA, resolução efetiva:

3.3 µA ±(0 A - 50 mA)

10 µA ±(50 mA - 100 mA)

Monitoramento de nível de tensão de desvio de corrente contínua Vdc

(0,5% da leitura + 60 mV) × Kt

Para medições com Vdc-Idc: (indicadores técnicos)

Ao usar o monitoramento de nível: (valor típico)

Kt Coeficiente de temperatura

Monitoramento de nível de corrente de desvio DC Idc

(A [%] + B [A] do valor medido) × Kt

Para medições com Vdc-Idc: (indicadores técnicos)

Ao usar o monitoramento de nível: (valor típico)

A [%] Quando o modo de tempo de medição é curto: 2%

Quando o modo de tempo de medição é MED ou LONG: 1%

B [A] abaixo

Kt Coeficiente de temperatura

Quando o modo de tempo de medição é curto, os valores abaixo dobram.

Tensão do sinal de teste ≤ 0,2 Vrms (modo de tempo de medição = MED, LONG)

Deslocamento de corrente contínua

Gama de corrente

Impedência [Ω]

< 100 100 300, 1 k 3 k, 10 k 30k, 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Tabela 38. 0,2 Vrms < Tensão do sinal de teste ≤ 2 Vrms (modo de tempo de medição = MED, LONG)

Deslocamento de corrente contínua

Gama de corrente

Impedência [Ω]

< 100 100, 300 1k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Tabela 39. Tensão do sinal de teste > 2 Vrms (modo de tempo de medição = MED, LONG)

Deslocamento de corrente contínua

Gama de corrente

Impedência [Ω]

≤ 300 1 k, 3 k 10k, 30 k 100 k

20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA

2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA

20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA

100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA

Tabela 40. Impedência de entrada (valor nominal)

Impedência de entrada Condições

Exceto as condições abaixo de 0 Ω.

Tensão de sinal de teste de 20 Ω ≤ 0,2 Vrms, gama de impedância ≥ 3 k Ω, gama de corrente de desvio de corrente contínua ≤ 200 µA

Tensão do sinal de ensaio ≤ 2 Vrms, gama de impedância ≥ 10 kΩ, gama de corrente de desvio de corrente contínua ≤ 200 µA

Tensão do sinal de ensaio > 2 Vrms, faixa de impedância = 100 kΩ, faixa de corrente de desvio de corrente contínua ≤ 200 µA

Sinal de alimentação DC

Tabela 41. Tensão do sinal de teste

Faixa –10 V a 10 V

Resolução 1 mV

精度 0.1% + 3 mV（23 °C ±5 °C）

（0.1% + 3 mV） x 4

(0 a 18 °C ou 28 a 55 °C)

Tabela 42. Teste de corrente de sinal

Faixa –45 mA a 45 mA (valor nominal)

Impedência de saída

100 Ω (valor nominal)

A capacidade de medição de resistência de corrente contínua (Rdc) está disponível após a instalação do E4980A-001/200 ou E4980AL-032/052/102.

Precisão da resistência de corrente contínua (Rdc)

Precisão de medição absoluta Aa

Precisão de medição absoluta Aa

Fórmula 15: Aa = Ae + Acal

Aa Precisão absoluta (% das leituras)

Ae Precisão relativa (% das leituras)

Precisão de calibração Acal

Precisão de medição relativa Ae

Precisão relativa da medição Ae

方程式 16： Ae = [Ab + (Rs / |Rm|+ Go × |Rm|) × 100 ] × Kt

Valor de medição Rm

Ab Precisão básica

Rs 短路偏置 [Ω]

Go Deslocamento aberto [S]

Kt Coeficiente de temperatura

Precisão de calibração Acal

A precisão da calibração Acal é de 0,03%.

Precisão básica Ab

Tabela 43. A precisão básica Ab é fornecida abaixo.

Tempo de medição Tensão do sinal de teste

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

SHORT 1.00% 2.00%

MED 0.30% 0.60%

Deslocamento Go

Tabela 44. O desvio de abertura Go é dado abaixo.

Tempo de medição Tensão do sinal de teste

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

CURTO 50 nS 500 nS

MED 10 nS 100 nS

Desviés de curto-circuito Rs

Tabela 45. O desvio de curto-circuito Rs é dado abaixo.

Tempo de medição Tensão do sinal de teste

≤ 2 Vrms > 2 Vrms

QUARTO 25 m Ω 250 mΩ

MED 5 m Ω 50 mΩ

Efeito do comprimento do cabo (desvio de curto-circuito)

Tabela 46. Quando o cabo é estendido, adicionar o seguinte valor em Rs.

Comprimento do cabo

1 metro 2 metros 4 metros

0.25 m Ω 0.5 mΩ 1 mΩ

Coeficiente de temperatura Kt

Tabela 47. O coeficiente de temperatura Kt é indicado abaixo.

Temperatura [°C] Kt

0 - 18 4

18 - 28 1

28 - 55 4

fonte de alimentação

Tensão 90 VAC - 264 VAC

Frequência 47 Hz - 63 Hz

Consumo máximo 150 VA

Tabela 49. Ambiente de trabalho

Temperatura 0 - 55 °C

Umidade (≤ 40 °C, sem condensação) 15% - 85% RH

Altitude 0 m - 2000 m

Tabela 50. Ambiente de armazenamento

Temperatura – 20 – 70 °C

Umidade (≤ 60 °C, sem condensação) 0% - 90% RH

Altitude 0 m - 4572 m

Dimensões externas: 375 (largura) x 105 (altura) x 390 (profundidade) mm (valor nominal)

Os pixels eficazes são superiores a 99,99%. pode ser de 0,01% (cerca de 7%).

pixel) ou menos pixels perdidos ou permanentemente brilhantes, mas isso não

Barreira.

Figura 6. Dimensões (vista lateral, com punho e amortecedor, em milímetros, valor nominal)

Figura 7. Dimensões (vista lateral, sem alças e amortecedores, em milímetros, valor nominal)

Peso: 5,3 kg (valor nominal)

Tela: LCD, 320 × 240 (pixels), cores RGB

Os seguintes itens podem ser exibidos:

– Valores de medição

– Condições de medição

– Limites do comparador e resultados de julgamento

– Lista de tabelas de digitalização

– Mensagens de auto-teste

Informações adicionais

EMC

Diretiva 2004/108/CE do Conselho

IEC 61326-1:2012

EN 61326-1:2013

CISPR 11:2009 +A1:2010

EN 55011: 2009 +A1:2010

Grupo 1, Classe A

IEC 61000-4-2:2008

EN 61000-4-2:2009

4 kV CD / 8 kV AD

IEC 61000-4-3:2006 +A1:2007 +A2:2010

EN 61000-4-3:2006 +A1:2008 +A2:2010

3 V/m, 80-1000 MHz, 1.4 - 2.0 GHz / 1V/m, 2.0 - 2.7 GHz, 80% AM

IEC 61000-4-4:2004 +A1:2010

EN 61000-4-4:2004 +A1:2010

Cabo de alimentação de 1 kV / Cabo de sinal de 0,5 kV

IEC 61000-4-5:2005

EN 61000-4-5:2006

0,5 kV de tensão entre linhas / 1 kV de tensão entre linhas

IEC 61000-4-6:2008

EN 61000-4-6:2009

3 V, 0.15-80 MHz, 80% AM

IEC 61000-4-8:2009

EN 61000-4-8:2010

30A/m, 50/60Hz

IEC 61000-4-11:2004

EN 61000-4-11:2004

0.5-300 次， 0% / 70%

Descrição:

A menos que a frequência do instrumento seja a mesma que a frequência de teste do sinal de interferência emitido (frequência em torno da frequência de carregamento e frequência em torno da frequência de modulação), a precisão da medição corresponde aos indicadores técnicos em toda a faixa de frequências de teste de resistência à interferência quando medidas em condições de 3 V/m de acordo com a EN61000-4-3.

CIEM/NMB-001 CIEM-001: 2006 Grupo 1, Classe A

AS/NZS CISPR11:2004

Grupo 1, Classe A

KN11, KN61000-6-1 e KN61000-6-2

Grupo 1, Classe A

segurança

Directiva 2006/95/CE do Conselho

IEC 61010-1:2001/EN 61010-1:2001

Categoria de medição I, grau de poluição 2, uso interior

IEC60825-1:1994 Classe 1 LED

CAN / CSA C22.2 61010-1-04

Categoria de medição I, grau de poluição 2, uso interior

ambiente

Este produto está em conformidade com a Diretiva WEEE (2002/96/CE)

solicitação. Ao colar este rótulo, não descarte este produto elétrico/eletrônico no lixo doméstico.

Categoria de produtos: por WEEE

Classificação de tipo de equipamento no Anexo I da Diretiva, este produto pertence à categoria "Instrumentos de monitoramento".

Tabela 51. Tempo de configuração de frequência de teste

Tempo de configuração da frequência de teste Frequência de teste (Fm)

5 ms Fm ≥ 1 kHz

12 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

22 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

42 ms 60 Hz > Fm

Tabela 52. Tempo de configuração da tensão do sinal de teste

Tempo de configuração da tensão do sinal de teste Frequência de teste (Fm)

11 ms Fm ≥ 1 kHz

18 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz

26 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz

48 ms 60 Hz > Fm

O tempo de comutação da medida de impedância é dado abaixo:

≤ 5 ms/interrupção de medição

Proteção do circuito de medição

A tensão máxima tolerada à descarga é indicada abaixo. Este parâmetro refere-se ao fato de que, quando um capacitor carregado é conectado a um terminal desconhecido, a maioria dos circuitos internos

Valores de tensão de segurança elevados.

Tabela 53. Tensão máxima de descarga

Voltagem máxima tolerada à descarga Valor de capacitação do dispositivo medido C

1000 V C < 2 µF

√ 2/C V 2 µF ≤ C

Informações adicionais

explicação

O condensador deve ser conectado a um terminal desconhecido ou a um dispositivo de teste

Realize a descarga para evitar danos ao instrumento.

Figura 8. Tensão máxima de descarga

———

0

200

400

600

800

1000

1200

1.E–15 1.E–13 1.E–11 1.E–09 1.E–07 1.E–05 1.E–03

Tensão [V]

Capacidade [F]

Definição

Este é o tempo entre o acionamento na interface do robô e a saída do fim da medição (EOM).

Condições

A Tabela 54 mostra o tempo de medição quando as seguintes condições são cumpridas:

– Medições de impedância convencionais, exceto Ls-Rdc, Lp-Rdc, Vdc-Idc

– Modo de medição de impedância: mantenha o modo de medição

– Monitoramento de nível de tensão de desvio de corrente contínua: desligado

– Monitoramento de nível de corrente de desvio DC: desligado

– Retardo de acionamento: 0 s

Tempo de atraso: 0 s

– Dados de calibração: desligado

– Modo de exibição: em branco

Tabela 54. E4980A Tempo de medição [ms] (desvio de corrente contínua: desligado)

Tempo de medição

Modo

Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 480 300 240 230 220 220 220

2 MED 380 180 110 92 89 88 88

3 SHORT 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6

Figura 9. Tempo de medição (E4980A, desvio DC: desligado)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frequência de teste [Hz]

Tempo de medição [segundos]

1. Longo

2. Médio

3. curto

E4980A-005 Tempo de medição [ms] (desvio de corrente contínua: desligado)

Tempo de medição Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

1 LONG 1190 650 590 580 570 570 570

2 MED 1150 380 200 180 180 180 180

3 SHORT 1040 240 37 25 23 23 23

Figura 10. Tempo de medição (desvio DC: desligado, E4980A-005)

Tabela 56. E4980AL Tempo de medição [ms]

Tempo de medição Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz

1 LONG 729 423 363 353 343 343

2 MED 650 250 140 122 119 118

3 SHORT 579 149 26 14 12 12

Figura 11. Tempo de medição (E4980AL)

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frequência de teste [Hz]

Tempo de medição [segundos]

1. Longo

2. Médio

3. curto

20 100 1k 10k 100k 1M 2M

0.01

0.001

0.1

1

10

Frequência de teste [Hz]

Tempo de medição [segundos]

1. Longo

2. Médio

3. curto

explicação

E4980A-005 Obsoleto e não está disponível para encomenda.

Quando o desvio de corrente contínua estiver ativado, aumente o seguinte tempo:

Tabela 57. Tempo aumentado quando o desvio de corrente contínua está habilitado [ms]

Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

30 30 10 13 2 0.5 0.5

Quando a média aumenta, o tempo de medição é calculado

Fórmula 17: MeasTime + (Ave – 1) × AveTime

MeasTime Tempo de medição calculado com base nas tabelas 53 e 54

Ave Média

AveTime Veja Tabela 56

Tabela 58. Tempo de aumento da média de horas [ms]

medição

Modo de tempo

Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 51 11 2.4 2.3 2.3 2.2 2.2

MED 110 81 88 87 85 84 84

LONG 210 210 220 220 220 210 210

Tabela 59. Tempo de medição ao selecionar Vdc-Idc [ms]

Tempo de medição Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 210 46 14 14 14 14 14

MED 210 170 170 170 170 170 170

LONG 410 410 410 410 410 410 410

Aumente o mesmo tempo de teste com cada média adicional

Tempo de medição aumentado quando as funções de monitoramento Vdc e Idc estão ativadas.

Adiciona o modo SHORT na Tabela 59. Ao usar apenas Vdc ou Idc, aumentar a metade do modo Short na Tabela 59

Entre.

Tabela 60. Tempo de medição ao escolher Ls-Rdc ou Lp-Rdc [ms]

Tempo de medição Frequência de teste

20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz

SHORT 910 230 43 24 22 22 22

MED 1100 450 300 280 270 270 270

LONG 1400 820 700 670 660 650 650

Cada média adicional, aumenta o tempo triplicado na Tabela 58

Além da exibição de páginas em branco, o tempo necessário para atualizar a exibição de cada página (tempo de exibição) é mostrado abaixo. Em mudança

Ao exibir a tela, aumenta o tempo de desenho e o tempo de troca. As medições mostram atualizações aproximadamente a cada 100 ms.

Tabela 61. Mostrar a hora

Projeto Quando Vdc, Idc

Monitoramento quando fechado

Quando Vdc, IDC

Quando o monitoramento está aberto

MEAS DISPLAY Tempo de desenho de página 10 ms 13 ms

MEAS DISPLAY Tempo de desenho da página (grande) 10 ms 13 ms

BIN No. DISPLAY Tempo de desenho da página 10 ms 13 ms

BIN COUNT DISPLAY Tempo de desenho da página 10 ms 13 ms

LIST SWEEP DISPLAY Tempo de desenho de página 40 ms —

Tempo de interrupção de medição 35 ms —

Medição do tempo de transferência de dados

Esta tabela mostra o tempo de transferência de dados medidos nas seguintes condições. Tempo de transferência de dados de medição devido às condições de medição e ao computador

E diferente.

Tabela 62. Tempo de transmissão medido nas seguintes condições:

Computador anfitrião: Estação de trabalho HP Z420, CPU Xeon ES-1620 0 @ 3,60 GHz

Display: Fechado

Modo de intervalo de impedância: AUTO (sem sobrecarga). ）

Circuito aberto/curto-circuito/compensação de carga: desligado

Monitoramento de tensão de sinal de teste: desligado

Tabela 63. Tempo de transferência de dados [ms]

Interface Dados

Formato de transferência

Utilização: FETC? Comando

(Medição de ponto único)

Usar memória de buffer de dados

(Lista de medições de digitalização)

Comparador aberto Comparador fechado 10 pontos 51 pontos 128 pontos 201 pontos

GPIB ASCII 2 2 4 13 28 43

ASCII Longo 2 2 5 15 34 53

Binário 2 2 4 10 21 36

USB ASCII 2 2 3 8 16 23

ASCII Longo 2 2 4 9 19 28

Binário 2 2 3 5 9 13

LAN ASCII 3 4 5 12 24 36

ASCII Longo 3 3 5 13 29 44

Binário 3 3 5 9 18 26

(1,5 V/2,0 V): Corrente de saída: até 20 mA

Opção 001 (aprimoramento do viés de alimentação e corrente contínua):

Tensão de desvio de corrente contínua: a tensão de desvio de corrente contínua aplicada ao dispositivo medido é calculada da seguinte forma:

Fórmula 18: Vdut = Vb – 100 × Ib

Vdut [V] Tensão de desvio de corrente contínua

Vb [V] Tensão de ajuste de desvio de corrente contínua

Ib [A] Corrente de desvio de corrente contínua

Corrente de desvio de corrente contínua: A corrente de desvio de corrente contínua do dispositivo a ser medido é calculada da seguinte forma:

Fórmula 19: Idut = Vb/(100 + Rdc)

Idut [A] Corrente de desvio de corrente contínua

Vb [V] Corrente de ajuste de desvio de corrente contínua

Rdc [Ω] Resistência de corrente contínua do dispositivo medido

Corrente máxima de desvio de corrente contínua

Tabela 64. A corrente máxima de desvio de corrente contínua quando a medição regular é possível.

Intervalo de impedância

[Ω]

Isolamento de corrente parcial

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Tensão do sinal de teste ≤ 2 Vrms Tensão do sinal de teste > 2 Vrms

0.1 Modo de medição automática:

100 mA

Manter o modo de medição:

valor aplicável a essa quantidade.

20 mA 100 mA

1 20 mA 100 mA

10 20 mA 100 mA

100 20 mA 100 mA

300 2 mA 100 mA

1 k 2 mA 20 mA

3 k 200 µA 20 mA

10 k 200 µA 2 mA

30 k 20 µA 2 mA

100 k 20 µA 200 µA

Quando o desvio de corrente contínua é aplicado ao dispositivo medido

Quando o desvio de corrente contínua é aplicado ao dispositivo medido, a precisão absoluta Ab aumenta os seguintes valores

Tabela 65. Somente quando Fm < 10 kHz e |Vdc| > 5 V

Short Med, Longo

0,05% × (100 mV / Vs) × (1 + √ (100 / Fm)) 0,01% × (100 mV / Vs) × (1 + √ (100 / Fm))

Fm [Hz] Frequência de teste

Vs [V] Tensão do sinal de teste

Quando o isolamento de desvio de corrente contínua é definido como ligado, o desvio de circuito aberto Yo adiciona os seguintes valores.

Fórmula 20:Yo_DCI1 × (1 + 1 / (Vs)) × (1 + √ (500 / Fm)) + Yo_DCI2

Zm [Ω] Impedência do dispositivo medido

Fm [Hz] Frequência de teste

Vs [V] Tensão do sinal de teste

Yo_DCI1,2 [S] Calcula este valor usando as tabelas 61 e 62

Idc [A] corrente de isolamento de desvio de corrente contínua

Tabela 66. Valor de Yo_DCI1

Faixa de corrente de desvio de corrente contínua Modo de tempo de medição

Short Med, Longo

20 µA 0 S 0 S

200 µA 0.25 nS 0.05 nS

2 mA 2,5 nS 0,5 nS

20 mA 25 nS 5 nS

100 mA 250 nS 50 nS

Tabela 67. Valor do Yo_DCI2

Corrente de desvio de corrente contínua

alcance

Modo de tempo de medição

≤ 100 Ω 300 Ω, 1 k Ω 3 k Ω, 10 k Ω 30 k Ω, 100 k Ω

20 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

200 µA 0 S 0 S 0 S 0 S

2 mA 0 S 0 S 0 S 3 nS

20 mA 0 S 0 S 30 nS 30 nS

100 mA 0 S 300 nS 300 nS 300 nS

Tempo de criação de desvio DC

Quando o desvio de corrente contínua é definido como ativado, o tempo de criação aumenta os seguintes valores:

Tabela 68. Tempo de criação de desvio DC

Tempo de criação

Capacidade do dispositivo a medir × 100 × loge (2/1,8 m) + 3 m

2 Opções 001 Capacitação do dispositivo medido × 100 × loge (40/1,8 m) + 3 m

1 µF 10 µF 100 µF 1 mF 10 mF 100 mF

Capacitação do dispositivo testado

Tempo de criação

12. Tempo de construção de desvio DC