Diffractor de retrodispersão eletrônica EBSD

O acoplamento de fibra óptica oferece alta sensibilidade

Instrumentos de Oxford O CMOS EBSD usa um sistema óptico acoplado a fibra óptica para que a entrada de luz não seja limitada pela abertura da lente. Em comparação com o acoplamento de lentes tradicionais, a sensibilidade do detector é significativamente melhorada e pode até ser usada para a coleta EBSD de materiais sensíveis ao fluxo de perovskita e outros materiais orgânicos.

Tela de alta temperatura (Opcional)

Telas de alta temperatura de nova geraçãoAdotando a tecnologia de filtro óptico infravermelho, pode filtrar eficazmente o fundo infravermelho causado por altas temperaturas e manter o sinal padrão.

Todo-Poderoso Detector EBSD

O detector de difração de retrodispersão eletrônica SymmetryS3 é a terceira geração da linha de produtos Symmetry. O S3 combina análise de alta velocidade (>5700 samples/s) com uma variedade de excelentes recursos para garantir um desempenho superior e atender às necessidades de pesquisa científica em todos os campos.

O SymmetryS3 é um detector EBSD projetado para fornecer excelentes resultados de vários tipos de amostras. O sistema de câmera de acoplamento de fibra óptica sem lente oferece uma excelente sensibilidade em todas as condições analíticas, desde a análise de materiais sensíveis à corrente oriental até a caracterização de alta velocidade de amostras convencionais. A alta resolução de pixel, combinada com níveis garantidos de distorção de subpixel, torna o S3 ideal para análises profundas de tensão e trabalho EBSD de alta precisão. A função de inclinação do detector controlada por software garante que as amostras de todos os tamanhos e formas possam ser coletadas em posições geométricas otimizadas.

6 modos de câmera para análises diárias e de alta dificuldade com resolução de imagem de padrões de até 1244x1024 pixels com velocidades de captura >5.700 padrões/s com resolução simultânea de 156x128 pixels

Controle de elevação de tela do Symmetry S3. Independentemente do tamanho da amostra, alta ou baixa, a frente do detector permanece sempre no local ideal para a coleta

Alta resolução Detector EBSD

O C-Nano+ é um excelente detector de EBSD CMOS que oferece padrões EBSD em resolução de megapixels e garante velocidades de análise de mais de 600 padrões por segundo.

Isto, juntamente com a alta sensibilidade do sistema de fibra óptica, O C-Nano+ é ideal para análises de alta precisão de materiais desafiadores, incluindo cerâmicas e minerais.

Milhões de pixels Modelos de resolução 1244x1024 com velocidades de captura simultânea de até 80 modelos/s: Ideal para estudos HR-EBSD e análises detalhadas de tensão e identificação de fase com velocidades máximas de análise de até 600 modelos/s, resolução de 312x256 pixels, com apenas um fluxo de 3 nA (em aço, Ni)

Nova geração Software de processamento de dados EBSD

Configuração padrãoPara atender às suas necessidades de análise de dados EBSD

A maioria A análise de dados EBSD requer processamento de dados convencional, como desenhar vários mapas de distribuição superficial, estatísticas de tamanho de grão, análise de estrutura, visualização de limites de cristal, estudo de tensões, etc. A configuração padrão AZtecCrystal oferece ferramentas poderosas e convenientes para atender às suas diversas necessidades de processamento de dados. A velocidade de processamento do AZtecCrystal é significativamente maior e é ideal para processar grandes dados coletados por detectores CMOS EBSD de alta velocidade. Seja um novato ou um especialista, você pode se divertir!

lMais do que 30 gráficos de distribuição superficial com combinações ilimitadas para medição instantânea de tamanhos de grãos, de acordo com as normas ISO e ASTM, com mais de 30 parâmetros de grãos

lAnálise completa da estruturaIncluindo mapas polares, antipolares e funções de distribuição orientacional

lAnálise completa do limite de cristal com análise de diferença de orientação e tabela estatística detalhada do comprimento do limite de cristal

lAnálise de associação com imagens eletrônicasCorrigir a distorção do mapa de distribuição superficial