Série de sondas eletrônicas

Nasceu o “Grand EPMA” Sistema óptico eletrônico de emissão de campo de ponta Leve ao máximo o desempenho analítico de Shimazu EPMA Desde as condições de observação de SEM até a escala de 1μA, os sistemas ópticos eletrônicos de emissão de campo de ponta apresentam uma excelente resolução espacial incomparável em uma variedade de condições de fluxo. Combine os espectrômetros de raios-X de alto desempenho tradicionais de Shimazu para maximizar o desempenho analítico. O merecido "The Grand EPMA", o mais alto nível EPMA nasceu!

Resolução espacial incomparável

Orgulhe-se da resolução de imagem eletrônica secundária No.1 usando fluxos condicionais de análise. (Tensão de aceleração de 10kV) 20nm@10nA // 50nm@100nA / 150nm@1 μA）。 Em comparação com os resultados da arma eletrônica original (CeB6, fio de tungstênio).

Uma vez que o fluxo maior disponível obtém imagens com a mesma resolução que a arma eletrônica original, a análise de raios-X de alta sensibilidade é possível. Mais notável é a imagem SEM quando o fluxo é de 1μA. Só o EPMA-8050G é capaz de obter um fluxo acima de 1μA e pode ser comprimido até tão fino.

Comparação das características de diferentes armas eletrônicas que geram feixes de eletrônicos (tensão acelerada 10kV)

Análise de alta sensibilidade de fluxos grandes

Os tipos de emissão de campo SEM e EPMA permitem grandes fluxos de feixe que outros instrumentos não podem alcançar (até 3 μA com uma tensão acelerada de 30kV). Um salto qualitativo foi alcançado na sensibilidade de detecção de elementos ultra-microscópicos, tornando a visualização da distribuição de componentes de elementos ultra-microscópicos na análise da superfície elementar uma realidade. Além disso, não é necessário substituir o apendice de luz da lente em todos os intervalos de fluxo, sem preocupação com o eixo de fusão, alcançando uma análise altamente automatizada.

As 3 imagens da superfície são os resultados da análise da superfície de aproximadamente 1% de Si no aço inoxidável sob diferentes fluxos de feixe. Quanto maior o fluxo de feixe, menor o desvio, mais clara será a confirmação da faixa que contém Si.

* Condições de análise: tensão de aceleração 10kV, tempo de integração 50msec. A análise demora cerca de uma hora.

Espectrómetro de raios X de 4 polegadas de alto desempenho com até 5 canais simultaneamente

O ângulo de extração de raios X determina o desempenho analítico, 52,5 ° melhor

Quanto menor a absorção de raios-X, maior a sensibilidade.	O alto ângulo de extração de raios-X pode reduzir o efeito da absorção e pode ser analisado no fundo do buraco profundo e objetos estranhos no buraco.

Análise de objetos estranhos em buracos profundos. Distribuição do ferro (Fe) na parte inferior esquerda e do titânio (Ti) na parte inferior direita. O alto ângulo de extração do EPMA-8050G permite uma análise de alta precisão, mesmo em amostras com superfícies significativamente diferentes.

Os cristales espectroscópicos usam um cristal de Johnson com foco total.

O processo de preparação de processamento de cristais com a experiência de Shimazu em pesquisa e desenvolvimento garante a disponibilidade de cristais espectrais de alta sensibilidade e alta resolução. Cristais espectrais do tipo Johanson são totalmente focados, sem diferença de imagem.

Espectrómetro de 4 polegadas com alta sensibilidade e alta resolução com até 5 canais simultaneamente.

O diâmetro do círculo Roland do espectrômetro de raios-X é um dos fatores críticos que afetam o desempenho analítico do EPMA. Cada aumento de 1 polegada no raio do círculo Roland reduz a sensibilidade de detecção em mais de 30%. Shimazu EPMA pode até

Todas as operações de análise são fáceis de entender

Todas as operações podem ser realizadas com apenas um mouse, operabilidade avançada, busca de "fácil compreensão" interface de usuário humana, com o modo de navegação e vários novos recursos, tornando a "operação fácil de entender" uma realidade. Os usuários iniciantes e especialistas podem realizar análises operacionais convenientes.

● Fácil de operar desde a importação de amostras até a geração de relatórios de análise. A partir de então, o número de pessoas que estão a trabalhar na área é de 1.
Observações SEM de localização de amostras podem ser facilmente realizadas mesmo na primeira utilização.
● Manipulabilidade incomparável, melhorando significativamente a eficiência da preparação da análise.
Perseguir visualmente uma interface de usuário "fácil de entender".
• Modo de navegação para orientação automática até a geração de relatórios de análise.