O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X estendido mede principalmente a variação da taxa de absorção do elemento K/L e sua proximidade e é amplamente utilizado para as propriedades locais de materiais de diagnóstico, como o estado de valor, o número de aposentos, a forma de bits e o comprimento da ligação dos átomos do núcleo.
Espectrómetro de estrutura fina de absorção de raios-x expandidoA utilização de fontes de raios-X convencionais para a espectrometria de estruturas finas de absorção de raios-X (XAFS) tem um excelente efeito complementar e expansivo para as principais infraestruturas científicas e tecnológicas, como a radiação sincrônica e os instrumentos científicos, como o microscópio eletrônico e o difractor de raios-X. Este produto foi atualmente comprado pela Universidade de Pequim, Universidade Aeroespacial de Pequim, Universidade de Tianjin, Universidade de Energia do Norte da China, Universidade de Qinghai, Universidade de Anhui e muitas outras universidades, ajudando eficazmente a pesquisa científica relevante e a exploração aplicativa!

Sistema de desktop compacto e fácil de usar:
· Suporta a função de varredura rápida;
· Suporte a extensões como testes in situ;
· Ergonomia altamente projetada, operação mais conveniente;
· Pré-definição de parâmetros experimentais incorporados para medições rápidas;
· Alternação automática de diferentes amostras, diferentes modos de medição com um clique;
· Transferência remota de dados, exibição em tempo real do processo experimental e resultados de apoio a testes sem vigilância;
· Apoio técnico profissional para aplicações e análise de dados;
· O instrumento tem imunidade à radiação e múltiplas proteções de segurança para garantir a segurança pessoal e de uso.
Cristais curvados para XAFS:
· Configuração completa de diferentes cristales para alcançar a cobertura de vários elementos;
· Instalação pré-direta, pronta para uso;
· Cristais curvados especiais podem ser personalizados de acordo com os elementos necessários para alcançar o melhor desempenho.
Espectrómetro de absorção de raios X de estruturas finas (XAFS)Estruturas finas de absorção de raios X expandidasAgência de varredura de energia:
· Agentes de digitalização conectados;
· Realizar conexões precisas de fontes de luz, cristales curvos, amostras e detectores;
• Alta precisão e resolução, boa estabilidade.

