Descrição do Fischerscope X-Ray XDL230

Tecnologias e desempenhos1

• Princípio de medição: a utilização de espectroscopia de fluorescência de raios X para alcançar a medição precisa da espessura do revestimento, o uso de métodos de detecção sem danos, com função de foco automático para garantir a integridade da amostra e a precisão da medição.

• Alcance de medição de elementos: abrange Cl(17)-U(92) para medir simultaneamente até 24 elementos e 23 camadas de revestimento.

• Desempenho do hardware:

• Plataforma manual X / Y: faixa móvel ≥95x150mm, mesa de trabalho disponível ≥420x450mm, para atender às necessidades de colocação e medição de múltiplas amostras.

• Eixo Z elétrico: suporta foco manual / automático, gama de movimento ≥140mm, adaptado a amostras de diferentes alturas.

• Tecnologia DCM: Medição de foco a longa distância em amostras de cavidade de 80 mm de profundidade com compensação de distância de medição (DCM).

• Regulação de alta tensão: alta tensão variável suporta 30KV, 40KV, 50KV regulação de três passos, pode responder flexibilmente a diferentes cenários de teste.

• Returador: Returador redondo com φ0,3 para melhorar a precisão da medição, além de returadores opcionais como φ0,1 mm, φ0,2 mm e retângulo 0,3 mm x 0,05 mm.

• Detector de raios X: usa um receptor proporcional para garantir uma recepção estável do sinal.

• Câmera: Câmera CCD de alta resolução com multiplicador de ampliação de 40 a 160 vezes para facilitar o posicionamento da amostra, localização da medição ao longo do raio X primário, foco manual, linhas cruzadas (com escala e tamanho do ponto de medição calibrados), iluminação LED com brilho ajustável e pontos de luz laser para posicionamento preciso da amostra.

Software e processamento de dados 1

• Sistema operacional e software: Baseado na interface operacional chinesa do Windows 7 ou superior, com software de teste profissional WinFTM, com uma interface USB para conectar PC e impressora.

• Função de cálculo estatístico: função de hora e data integrada no conjunto de dados, com cálculos estatísticos como média, desvio padrão, máximo e mínimo; Suporta a entrada de intervalo de tolerância para cálculo de valores CP e Cpk e alertas automáticos de alarme de ultra-intervalo.

• Calibração e determinação: Medidas de calibração sem padrão de placas com uma biblioteca de espectro integrada de 12 elementos puros; Disponibilidade de um display de valor MQ para determinar a concordância do programa de medição com a amostra e evitar erros.

• Folhas padrão: com folhas padrão com 12 elementos puros de referência (Ag, Cu, Fe, Ni, Zn, Zr, Mo, Sn, W, Au, Pb, Cr).

Parâmetros do instrumento3

• Requisitos de energia: 200V, 50Hz, potência máxima 120W (excluindo computadores).

• Classe de proteção: IP40.

• Dimensões externas: largura x profundidade x altura (mm) de 570x760x650.

• Dimensões da câmara de medição interna: largura x profundidade x altura (mm) 460x495x140.

• Peso: 107 kg.

• Temperatura de uso: 10 ℃-40 ℃.

• Temperatura de armazenamento ou transporte: 0 ℃-50 ℃.

• Umidade relativa do ar: ≤95% sem congelação.

Área de aplicação2

• Produção industrial: medição de peças de galvanização produzidas em massa, aplicável à inspeção de revestimento de peças em indústrias automotivas, aeroespaciais e eletrônicas, como medição de espessura de revestimento e controle de qualidade de peças de motores de automóveis, estruturas metálicas aeroespaciais, carcaças de equipamentos eletrônicos, etc.

• Indústria eletrônica: medir revestimentos funcionais na indústria eletrônica ou semicondutores, como pinos de chip, revestimentos de folha de cobre em placas de circuito impresso, revestimentos de dedo dourado, etc., para garantir o desempenho elétrico e a confiabilidade dos produtos eletrônicos.

• Indústria de decoração: medição de revestimentos ultrafinos, como cromo decorativo, para a inspeção de espessura de revestimento de móveis, hardware de banheiro, acessórios e outros produtos decorativos, para garantir a beleza e a durabilidade do produto.