Núcleo de câmera térmica FT e sistema de teste FPA IR

Configuração FT-S para sistemas de teste FT (medição de parâmetros espectrais)

A matriz de plano focal infravermelho é o componente central mais importante do sistema de imagem térmica. O design do circuito do detector (núcleo) é uma parte fundamental do sistema de imagem térmica. Como os parâmetros da matriz de plano focal infravermelho determinam os limites de desempenho do sistema de câmera térmica, os profissionais em tecnologia de plano focal infravermelho ou tecnologia de câmera térmica devem ter conhecimento preciso dos parâmetros da matriz de plano focal infravermelho. Portanto, o equipamento de medição para medir o desempenho da matriz de plano focal infravermelho é fundamental para o desenvolvimento de sistemas de imagem térmica infravermelha.

FT é um sistema de teste completo que produz infravermelho com controle preciso da distribuição do espaço-tempo, irradiando para o plano de entrada do plano focal infravermelho para controlar o plano focal infravermelho medido; Finalmente, a análise semiautomática do sinal de saída necessário para caracterizar a matriz de plano focal infravermelho medido (ou núcleo de câmera térmica).

O sistema mede todos os parâmetros importantes (ruído/sensibilidade, qualidade de imagem e parâmetros espectrais) do núcleo da câmera térmica e da matriz do plano focal infravermelho. Detectores que podem ser testados em diferentes bandas espectrais (LWIR ou MWIR), refrigerados ou não. Os sistemas FT estão disponíveis em uma variedade de versões e otimizados para núcleos de imagem térmica e matrizes de plano focal infravermelho de diferentes faixas de teste, bem como uma versão ultra-expandida que pode testar câmeras térmicas completas.

O sistema de medição FT é um sistema modular que pode ser facilmente e rapidamente configurado em três estações de trabalho de medição semi-independentes: FT-N, FT-I e FT-S.

FT-N – medição de ruído e parâmetros de resposta;

FT-I – Medição de parâmetros de qualidade de imagem

FT-S - Medição de parâmetros espectrais.