Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo

JSM-IT810 (em inglês)Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campoAumente a eficiência operacional da depuração do instrumento à análise de observação com a tecnologia de automação!

JSM-IT810 (em inglês)Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campoA série FE-SEM combina versatilidade e alta resolução espacial para operações automatizadas. Automação integrada de imagem e análise EDS sem codificação para tornar o fluxo de trabalho mais fluido e eficiente. Além disso, foram adicionados novos recursos para garantir que todos os usuários do SEM tenham acesso a dados de alta qualidade e uma melhor experiência do usuário. Estes recursos incluem pacotes de ajuste automático do SEM, correção de trapezoido (muito útil em testes EBSD) e reconstrução 3D ao vivo para observar a morfologia da superfície.

A operação do FE-SEM nunca foi tão simples quanto a série JSM-IT810.

Características principais

1. Funcionalidade de análise de observação automática "Neo Action"

Operações inteligentes para automatizar observações SEM e análise espectral de energia (EDS)

Amostra: Condrulas em condrite Julesberg (L3.6), Tensão de pouso: 5 kV

2. Calibração automática "Pacote de ajuste automático SEM"

Usar uma amostra para ajustar a magnificação automática, pares de feixe de elétrons e neutralizar a calibração de energia EDS. Verificações regulares para garantir que o equipamento esteja em bom estado.

3. Funções 3D em tempo real

Os detectores semicondutores de cinco segmentos podem escolher a dispersão de sinais eletrônicos de volta. As imagens bidimensionais obtidas dos 4 segmentos externos podem ser usadas para a reconstrução de imagens tridimensionais.

O novo recurso Live-3D mede e verifica a topologia de amostras em tempo real.

4. Integração EDS

A integração do EDS elimina as barreiras entre a observação do SEM e a análise elementar do EDS. Observe vários padrões de análise na tela, como pontos, faces, linhas e MAP, que podem ser analisados imediatamente.