Medidor de espessura de membrana Medidor de espessura

Medidor de espessura de membrana Medidor de espessura

Medidor de espessura de membrana Medidor de espessura

Informações sobre o produto Características Gama de medição da película fina para a espessura, análise espectral UV ~ NIR Medidor óptico de alta performance de baixo preço Análise espectral da espessura da película por meio da refletidão absoluta 90% da função * da herança completa da máquina FE-3000 Sem configuração complicada, fácil operação,

Comprimento especial

● Suporta uma variedade de espessuras de película, desde a película fina até a espessura

● Análise da espessura da película com espectro de reflexo

● Medição de alta precisão sem contato e sem destruição, ao mesmo tempo que o tamanho é pequeno e o preço é baixo

● Configuração e medição simples! Qualquer pessoa pode medir facilmente a espessura da película

● Através do método de pico valle, análise de frequência, multiplicação mínima não linear, método de otimização, etc., várias medições de espessura da membrana podem ser realizadas.

O algoritmo de análise da espessura da película não linear de duplicação mínima permite a análise de constantes ópticas (n: taxa de refração, k: contagem de atenuação).

Projetos de medição

Medição da refletidão absoluta

Análise da espessura da membrana (10 camadas)

Análise de constantes ópticas (n: índice de refração, k: contagem de atenuação)

Objeto de medição

Filme funcional, plástico
Membras condutoras transparentes (ITO, nanofios de prata), membranas diferenciais de fase, membranas polarizadas, membranas AR, PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、 Adesivos, adesivos, filmes protetores, revestimentos rígidos, proteção contra impressões digitais, e muito mais.

semicondutor
semicondutores compostos, Si、 membrana de óxido, membrana de nitreto, Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、 zafir, etc.

Tratamento de superfície
Revestimento DLC, anti-oxidante, anti-spray, etc.

Materiais ópticos
filtros, membranas permeáveis, etc.

FPD
LCD (CF, ITO, LC, PI), OLED (membranas orgânicas, materiais de embalagem), etc.

outro
HDD、 Fitas, materiais de construção, etc.

Princípio de medição

A Otsuka Electronics utiliza interferômetros ópticos e espectrofotômetros de alta precisão para medir a espessura da película sem contato, sem danos, de alta velocidade e de alta precisão. O método de interferometria óptica é um método para determinar a espessura da membrana óptica com a reflexão obtida por um sistema óptico espectrofotômetro, como mostrado na Figura 2. Por exemplo, uma película revestida sobre um substrato metálico, como mostrado na Figura 1, a luz emitida acima da amostra alvo é refletida pela superfície da película (R1). Além disso, a luz que atravessa a película é refletida no substrato (metal) e na interface da película (R2). O método de medir a interferência óptica causada pelo deslocamento de fase devido à diferença de distância de luz neste momento e calcular a espessura da membrana de acordo com o espectro de reflexão e a refração obtidos é chamado de interferência óptica. Existem quatro métodos de análise: análise de pico, análise de frequência, multiplicação mínima não linear e otimização.

especificação