Convertidor de Frequência FX1N-24MR-ES Proteção elétrica estática integrada

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Conselhos de reparação de placas industriais

Não confiar demais em testes on-line

O teste funcional não pode substituir o teste de parâmetros

O teste funcional só pode testar a área de corte, área de ampliação e área de saturação do dispositivo, mas não pode entender o alto e o baixo da frequência de trabalho e a velocidade lenta neste momento.

Para os chips digitais, apenas existem níveis elevados e baixos de mudança de saída, mas não é possível detectar a velocidade de mudança ao longo de suas subidas e descidas.

Para o chip analógico, ele lida com a quantidade de mudanças na simulação. Sua distribuição de componentes do circuito, resolvendo os diferentes efeitos do esquema de sinal, é complexo. Com a atual tecnologia de teste on-line, é impossível resolver os testes on-line de chips analógicos. Portanto, os resultados deste teste funcional são apenas para fins informativos.

A maioria das sessões de teste on-line, após o teste funcional de vários tipos de chips na placa de circuito, dá "teste aprovado" ou "teste não aprovado". Então por que ele não deu o dispositivo testado se houve algum problema? Essa é a desvantagem desses testes. Porque há muitos fatores afetados (interferências) no teste on-line. É necessário tomar muitas medidas antes do teste (como desconectar a vibração, remover a CPU e o chip programado, adicionar o isolamento do sinal de interrupção, etc.), e vale a pena estudar se isso é eficaz. Pelo menos, os resultados atuais dos testes são às vezes insatisfatórios.

Os leitores que conhecem o tester on-line sabem que existe essa frase. "O chip que não passa no teste on-line não é necessariamente danificado; o chip que passa no teste não deve estar danificado." Isso é interpretado como se o dispositivo fosse afetado on-line ou anti-interferência, o que não é difícil de entender. Será que os chips danificados "não passam" durante o teste? A resposta não é certa. O autor e seus colegas encontraram que o chip estava danificado (exatamente, trocar a placa não funcionaria), mas os resultados do teste foram aprovados. Isto é explicado como resultado do próprio princípio de funcionamento do testador (tecnologia de transmissão posterior). Portanto, não podemos confiar excessivamente no papel dos testadores on-line (embora os fabricantes tenham promovido muito misteriosamente), caso contrário, o trabalho de reparação da placa de circuito será desviado.

No dia 20 de março, o 22º Fórum CAIMRS e Inteligência Numérica foi realizado em Nanjing. por Gongkong ® Na vigésima quarta edição do ranking anual de automação industrial e digitalização de 2025-2026, a Mitsubishi Electric Automation foi selecionada no ranking “Top 50 do ano em automação e digitalização” e, com o seu revolucionário controlador integrado FA, o controlador MELSEC MX, se destacou entre muitos produtos avaliados e ganhou o prêmio “Nova Qualidade” de produtos de controle de movimento e transmissão.

Desde o lançamento em 2025, o controlador MELSEC MX, com as suas vantagens em alta velocidade de alta precisão, engenharia e transformação digital, é visto como um motor importante para impulsionar o desenvolvimento de produtividade de alta qualidade e acelerar o avanço da indústria para a inteligência.

Em um momento de concorrência cada vez mais intensa na fabricação inteligente, a Mitsubishi Electric continuará a fazer esforços para impulsionar a evolução da indústria com a tecnologia, constantemente rompendo as fronteiras tecnológicas, baseando-se em vários produtos inovadores, como os controladores MELSEC MX, integrando profundamente a inteligência artificial e a tecnologia gêmea digital, impulsionando a automação industrial e estabelecendo uma nova para a fabricação inteligente global.