Sistema Helios 5 Laser PFIB

Ferramenta laser FIB SEM para secção transversal em escala de milímetros de alto rendimento e caracterização 3D com resolução de nanômetro

O Thermo ScientificSistema Helios 5 Laser PFIBcombina a melhor coluna de microscopia eletrônica de varredura (SEM) monocromada Elstar com um feixe de íons focado em plasma (PFIB) e um laser de femtossegundos para produzir uma ferramenta de imagem e análise de alta resolução comno localcapacidade de ablação, oferecendo taxas de remoção de material sem precedentes para caracterização rápida em escala milimétrica em resolução nanométrica.

Características principais

Remoção rápida do material

Seções transversais em escala milimétrica com até 15.000 vezes mais rápida remoção de material do que um feixe de íons focado em gálio típico.

Posicionamento preciso e repetitivo do corte

O mesmo ponto coincidente para todos os 3 feixes (SEM/PFIB/laser) permite a colocação precisa e repetida do corte e a caracterização 3D.

Processamento de alto rendimento de materiais desafiadores

Inclui amostras não condutoras ou sensíveis ao feixe de íons.

Compartilha todas as capacidades da plataforma Helios 5 PFIB

Preparação de amostras TEM e APT sem gálio de alta qualidade e capacidades de imagem de alta resolução.

Análise estatisticamente relevante de dados subterrâneos e 3D

Adquira dados para volumes muito maiores em menos tempo.

Caracterização rápida de características subterrâneas profundas

Extração de lamelas ou pedaços de TEM subterrâneos para análise 3D.

Caracterização rápida e fácil de amostras sensíveis ao ar

Não é necessário transferir amostras entre diferentes instrumentos para imagem e secção transversal.