IG-1000

Para uma única área de nanopartículas

IG1000 ganha o Prêmio de Bronze do Pittcon2009 Dispositivo de medição de partículas mono-nanométricas IG-1000: ultrapassa a região mono-nanométrica para a região sub-nanométrica. O instrumento usa o método de rasterização induzida (IG), um novo método baseado na medição de tamanhos de partículas na escala nanométrica usando eletroforese bidirecional e medição de fenômenos de luz difractiva.

Para a medição de nanopartículas, os métodos convencionais usam métodos de dispersão dinâmica da luz, mas para partículas menores de 100 nanômetros, a luz será dispersa e a intensidade diminuirá abruptamente. Além disso, em áreas de tamanho de partícula único nanométrico (por exemplo, tamanho de partícula inferior a 10 nanométricos), as restrições físicas tornam difícil detectar a luz dispersa e, portanto, a medição do tamanho de partícula também se torna difícil. O método IG não usa luz dispersa, por isso não está sujeito a restrições físicas e não precisa de introduzir a refração como condição de medição. Portanto, torna a medição de nanopartículas fácil e altamente sensível, especialmente para análises de nanopartículas individuais.

Análise de alta sensibilidade de nanopartículas individuais

A tecnologia de rastre induzido usa a luz difractiva emitida pela rastre difractiva formada por partículas, em vez da luz dispersa emitida pelas partículas, portanto, mesmo na área de uma única nanopartícula, pode ser obtida uma relação de sinal-ruído suficiente, boa repetibilidade e estabilidade da medição.

Resistência à poluição

O novo princípio de medição é resistente à poluição e, mesmo que a amostra misture pequenas quantidades de objetos estranhos, a informação sobre as partículas a ser analisada deve ser confiável e eficaz. Isso significa que a filtragem da amostra para a remoção de partículas grossas não é necessária.

Alta reproducibilidade

Dados estáveis. Particularmente, as partículas com tamanho de partícula inferior a 10 nm são altamente repetitivas, evitando incertezas e ambiguidades na análise de partículas dentro de uma única área de nanopartículas. Ao mesmo tempo, os dados brutos da luz difractiva podem ser usados ​​para comparar as medições, o que permite verificar facilmente os resultados das medições.

O que é o método de rasterização induzida?

A quantidade de mudança na refração das nanopartículas no meio é afetada por sua concentração. Portanto, se, sob o efeito de forças externas, as partículas formam uma distribuição de concentração de partículas que varia periodicamente no meio, formando uma forma semelhante a uma grade, então desempenhará o papel de grade de difração. Se forças externas forem removidas, a rede também desaparecerá à medida que as partículas se dispersam. Específico para o método IG, é a intensidade e o tempo da mudança na intensidade da luz difractiva causada pelo desaparecimento gradual da agrupação de partículas após a força externa.

Rete de difração de partículas formadas por eletróforese bidirecional

A tensão de alternância é aplicada aos eletrodos de arranjo periódico, as partículas sob a ação do campo elétrico são eletroforesadas no líquido e formam uma distribuição de concentração periódica, e as partículas agrupadas formam uma rede de difração. Embora a distribuição de concentração periódica das partículas funcione como uma rede de difração (rede de concentração de partículas), se a tensão de corrente alterna for interrompida, as partículas se espalharão livremente e farão com que a rede desapareça (em pedido de patente).

Pontos do Método IG

O design único dos eletrodos permite medições precisas

Os eletrodos em ordem periódica também funcionam como uma grade de difração. E a luz de difração produzida pela rede de difração de eletrodos é mais fraca do que a luz de difração produzida pela rede de difração de concentração de partículas, a fim de medir com precisão as mudanças na luz de difração principal causadas pela difusão da luz de difração de concentração de partículas, é necessário garantir que a posição da luz de difração produzida por dois tipos de rede de difração não coincida. Para esse fim, o projeto do eletrodo foi modificado como mostrado na imagem, de modo que a distância entre a rede de difração do eletrodo é metade da rede de concentração de partículas (no pedido de patente).