Sistema de imagem de carga de bateria in situ

In situ interferência eletroquímica dispersão imagem - confocal sistema de associação Raman

Soluções especiais de alta resolução, caracterização in situ e observação de migração de íons

A imagem dispersa de interferência é baseada na tecnologia de imagem microscópica, com alta resolução e tecnologia de imagem de alto contraste. Ele usa a iluminação de campo amplo do laser para obter o sinal de dispersão da amostra ao laser e, em seguida, por meio de interferência para a imagem da superfície da amostra. Como o sinal de interferência é anormalmente sensível às mudanças na refração da superfície da amostra, é possível obter imagens de pequenas mudanças na superfície da partícula causadas durante o processo de carga e descarga eletroquímica em alta resolução espacial e refletir com alto contraste a formação, mudança e migração de compostos iônicos durante a carga e descarga e analisar seus mecanismos eletroquímicos.

O sistema também combina a tecnologia de imagem de microraman cofocal para permitir a imagem de dispersão de interferência e a caracterização do espectro de raman cofocal no mesmo local da amostra, caracterizando assim as mudanças na estrutura, composição e outras propriedades do material durante o processo de carga e descarga, bem como o processo de migração de íons.

• Modelos especiais de imagem de dispersão de interferência que refletem a formação, migração e distribuição de compostos iónicos.

• Resultados de imagem de dispersão de interferência e espectroscopia/mapeamento de Raman podem ser obtidos in situ na mesma área da amostra.

• Alta resolução espacial (comprimento de onda de 300 nm a 720 nm).

Funcionalidades de operação automática e coleta de dados, como o foco automático, garantem a estabilidade do caminho óptico e a facilidade de uso.

• Eletroquímica, materiais de bateria

• Micro-nanomateriais como materiais bidimensionais