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Telefone
13162829387
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Endereço
Quarto 2303, Edifício Guoke, Edifício 1, Lane 1029, Zhongjiang Road, Xangai
Shanghai Renjie Mechanical Electric Instruments Co., Ltd.
13162829387
Quarto 2303, Edifício Guoke, Edifício 1, Lane 1029, Zhongjiang Road, Xangai
JB-300WMáquina de teste de impacto controlada por microcomputador
■ Descrição do produto:JB-300WA máquina de teste de impacto de controle de microcomputador de martelo é usada para medir o desempenho do material metálico em resistência ao impacto sob a carga móvel e, assim, avaliar o estado de qualidade do material sob a carga móvel. A máquina é uma máquina de teste de controle semi-automático, operação simples e alta eficiência, balanço, choque, controle de aparelhos elétricos de soltura, e pode usar a energia residual após a amostra de choque para preparar o próximo experimento, especialmente adequado para o laboratório de experimentos de choque contínuos e uma grande quantidade de experimentos de choque na indústria da metalurgia, fabricação mecânica e outras indústrias.
■JB-300WMáquina de teste de impacto de acordo com as normas nacionaisGB/T3808-2002"Inspeção da máquina de teste de impacto de martelo", de acordo com o padrão nacionalGB/T229-1994"Método de teste de impacto de fenda inferior do metal" para o teste de impacto de materiais metálicos.
• Características de desempenho:Esta máquina de teste funciona como uma máquina de teste de controle de microcomputador, o computador detecta a perda de energia zero e o ciclo de oscilação do host, e pode exibir os resultados do teste de armazenamento e impressão. A operação da máquina de teste é fácil, a eficiência do trabalho é alta, após a amostra de choque, o uso da energia restante é o balanceamento automático, preparando-se para o próximo teste de choque, de modo que o laboratório de teste de choque contínuo e um grande número de departamentos de fabricação de máquinas e fábricas de metalurgia podem demonstrar sua superioridade.
• Principais indicadores técnicos:
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Modelo do produto |
JB-300W |
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Energia de choque |
150J、300J |
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Angulo de avanço do martelo |
150° |
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Distância entre o centro do eixo e o ponto de impacto |
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Velocidade de impacto |
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Distância do suporte da amostra |
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Angulo redondo da pinça |
R1 |
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Angulo redondo da lâmina de choque |
R2 |
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Espessura da faca de impacto |
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Método de refrigeração |
Refrigeração de semicondutores |
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Capacidade da caixa de amostra |
20um |
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Faixa de baixa temperatura |
0— |
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Precisão de temperatura |
Flutuação±1.5℃ |
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Alimentação |
380V±10% 50HZ |
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Condições ambientais |
Nenhum meio corrosivo, nenhuma vibração, nenhuma interferência de campo eletromagnético forte no ambiente circundante. |