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Shanghai Renjie Mechanical Electric Instruments Co., Ltd.
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Máquina de teste de impacto de controle de microcomputador JB-300W

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Máquina de teste de impacto de controle de microcomputador JB-300W

Detalhes do produto

JB-300WMáquina de teste de impacto controlada por microcomputador

■ Descrição do produto:JB-300WA máquina de teste de impacto de controle de microcomputador de martelo é usada para medir o desempenho do material metálico em resistência ao impacto sob a carga móvel e, assim, avaliar o estado de qualidade do material sob a carga móvel. A máquina é uma máquina de teste de controle semi-automático, operação simples e alta eficiência, balanço, choque, controle de aparelhos elétricos de soltura, e pode usar a energia residual após a amostra de choque para preparar o próximo experimento, especialmente adequado para o laboratório de experimentos de choque contínuos e uma grande quantidade de experimentos de choque na indústria da metalurgia, fabricação mecânica e outras indústrias.

JB-300WMáquina de teste de impacto de acordo com as normas nacionaisGB/T3808-2002"Inspeção da máquina de teste de impacto de martelo", de acordo com o padrão nacionalGB/T229-1994"Método de teste de impacto de fenda inferior do metal" para o teste de impacto de materiais metálicos.

• Características de desempenho:Esta máquina de teste funciona como uma máquina de teste de controle de microcomputador, o computador detecta a perda de energia zero e o ciclo de oscilação do host, e pode exibir os resultados do teste de armazenamento e impressão. A operação da máquina de teste é fácil, a eficiência do trabalho é alta, após a amostra de choque, o uso da energia restante é o balanceamento automático, preparando-se para o próximo teste de choque, de modo que o laboratório de teste de choque contínuo e um grande número de departamentos de fabricação de máquinas e fábricas de metalurgia podem demonstrar sua superioridade.

• Principais indicadores técnicos:

Modelo do produto

JB-300W

Energia de choque

150J300J

Angulo de avanço do martelo

150°

Distância entre o centro do eixo e o ponto de impacto

750mm

Velocidade de impacto

5.2m/s

Distância do suporte da amostra

40mm

Angulo redondo da pinça

R1-1.5mm

Angulo redondo da lâmina de choque

R2-2.5mm

Espessura da faca de impacto

16mm

Método de refrigeração

Refrigeração de semicondutores

Capacidade da caixa de amostra

20um

Faixa de baixa temperatura

060℃

Precisão de temperatura

Flutuação±1.5℃

Alimentação

380V±10% 50HZ5A

Condições ambientais

Nenhum meio corrosivo, nenhuma vibração, nenhuma interferência de campo eletromagnético forte no ambiente circundante.