Eletroscópio de varredura IT210 da eletrônica japonesa

Recolha de dados simples!

JSM-IT210 eletroscópio de varreduraÉ o microscópio eletrônico de varredura mais compacto fabricado no Japão.

A unidade de motor de 5 eixos torna a operação mais tranquila e rápida; Além disso, com o "SEM simples", você pode observar e analisar automaticamente apenas selecionando uma microárea.

O JSM-IT210 é uma nova geração de SEM compacto e operado sem tripulação.

Características principais

1. Navegação segura e simples na troca de amostras

① Coloque a amostra de acordo com as instruções de navegação

② Prepare a observação usando o espaço do vácuo

Iniciar a observação automaticamente

2. Sem necessidade de ampliar a imagem óptica, o SEM é ligado como "Zeromag"

O "Zeromag" é uma função de ligação de diagramas de banco de amostras, imagens ópticas e semelhantes a SEM, que facilita a localização da área a ser observada quando várias amostras são colocadas no banco de amostras ou observadas em um local específico.

3. Análise elementar em tempo real durante a observação "Live Analysis"

A "Análise ao Vivo" é a função de exibição em tempo real de raios-x característicos e distribuição superficial do elemento, permitindo que o elemento alvo seja observado.

4. Funcionalidade colorida de teste automático "Simple SEM"

"Simple SEM" é a função de captura automática com apenas a configuração da área de observação.

5. Forte suporte a testes automáticos

A mesa de amostragem de alta precisão facilita o teste automático. A precisão aprimorada da posição do banco de amostras torna mais práticos os testes contínuos e automáticos de vários pontos e domínios.

6. Suporte padrão 60 mm²EDS de grande calibre para análise mais rápida

* É possível obter espectros da mesma qualidade que os EDS tradicionais em pouco tempo e realizar análises multipontos de forma eficiente.

* As amostras sensíveis ao calor também podem ser testadas com tranquilidade

As técnicas tradicionais de EDS requerem grandes correntes para a análise e, para amostras sensíveis ao calor, podem resultar em deformações devido a danos térmicos, afetando a análise da distribuição superficial do elemento.

60 milímetros²Com EDS, a distribuição superficial do elemento pode ser obtida reduzindo o fluxo de radiação elétrica, o que permite reduzir danos térmicos e analisar.

* O eletroscópio de varredura JSM-IT210 obtém uma distribuição clara da superfície dos elementos, mesmo em pouco tempo

60 milímetros²O EDS é medido em apenas 1 minuto e também pode obter um mapa de distribuição da superfície do elemento clara o suficiente.