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Safet Instrumentos Científicos (Suzhou) Co., Ltd.
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Safet Instrumentos Científicos (Suzhou) Co., Ltd.

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Eletrônica japonesa SEM

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Visão geral
JSM-IT510 InTouchScope O SEM eletrônico japonês não é apenas uma ferramenta essencial para a realização de pesquisas científicas, mas também para fábricas de fabricação que exigem controle de qualidade*. Nesses cenários, o usuário precisa repetir as mesmas operações de observação, por isso, concluir essas operações rapidamente ajuda a aumentar a produtividade. O novo recurso "SEM simples" do JSM-IT510 permite que os usuários "repitam manualmente" as operações necessárias para a observação do SEM, tornando a observação do SEM mais eficiente e fácil de realizar.
Detalhes do produto

Água NEW SEM eletrônico japonês

Basta selecionar o horizonte de visão "SEM simples" para suportar o trabalho diário.

Amostra: Componentes eletrônicos

Tensão de aceleração: 15 kV, multiplicador de amplificação: x 50 (superior) x 1.000 (inferior), sinal: BE

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JSM-IT510 InTouchScope™Eletrônica japonesa SEMNavegação de troca de amostras

De guia de troca de amostras para observação automática com segurança simples!

1. Configurar amostras de acordo com o guia de navegação


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Medição da altura da amostra

Preparação para a observação de vácuo


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*1 O sistema de navegação do banco de amostras (SNS) é opcional

*2 O sistema de navegação do banco de amostras de grande área (SNSLS) é opcional

*3 Câmera da sala de amostras (CS) é opcional

Iniciar a observação automaticamente

Imagem automática após a conclusão do vácuo

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ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™Microscópio eletrônico japonêsConversão fácil entre imagens ópticas e imagens SEM

A função Zeromag simplifica a navegação e oferece uma transição perfeita de imagens ópticas para imagens SEM.

SEM、 As imagens ópticas e os diagramas do banco de amostras estão todos ligados para obter uma visão global da localização da análise.


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Amostra: Tensão de aceleração fóssil de chrysanthemum: 7kV Sinal: BE

Análise em tempo real/gráfico de inicialização em tempo real*2

1.SEM observação ao mesmo tempo dominar a composição elementar da região

A análise em tempo real é uma função que mostra o espectro EDS ou o mapa de elementos em tempo real durante a observação de imagens. Este recurso suporta a pesquisa de elementos de destino e fornece avisos.


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Análise simples com até 3 cliques para iniciar a análise EDS

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Várias opções avançadas

1.NOVO detector eletrônico secundário híbrido de baixo vácuo (LHSED) *

O novo detector coleta sinais eletrônicos e fotônicos e fornece imagens com alta relação sinal-ruído e informações de perfil aprimoradas


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2.NOVO 3D em tempo real O novo detector multidirecional de divisão BE * As imagens obtidas podem ser exibidas como imagens 3D em tempo real.

Mesmo que as amostras tenham flutuações superficiais sutis, o 3D em tempo real pode visualizá-las claramente e obter informações sobre sua profundidade.


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Amostra: Tensão de aceleração do parafuso: 15kV Multiplicador de amplificação: x100 Sinal: BE

3. Montagem

A função de montagem obtém automaticamente imagens com vários campos de visão menores e as junta em uma imagem com um campo de visão maior.

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Amostra: fósseis de chrysanthemum

Tensão de aceleração: 15kV Amplificação: x150 Sinal: BE Número de campos de visão: 13 x 13

Especificação da profundidade do sinal

Esta função mostra em tempo real a profundidade da análise (valor aproximado) da amostra medida e é muito útil para a análise elementar.


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