Microscópio de força atômica Jupiter Discovery

Inovação Tecnologia AFM para testes de amostras grandes

lImagem de alta resolução

lImagem de alto fluxo

Otimize o fluxo de trabalho e melhore a experiência do usuário

lSonda pré-instalada

lVisão superior e lateral dupla Sistema CCD

lInteligente FFM - Modo de topografia

Acessórios ricos e escaláveis

lVários acessórios disponíveis

lAmpliar mais funções

Conceito de design inovadorMelhor resolução vertical e horizontal

lDesign estrutural otimizadoAumenta efetivamente a rigidez do sistema e reduz o efeito da deriva térmica com níveis de ruído abaixo de 25 pm.

lExcelente equipado A tecnologia de sensor de posição LVDT reduz significativamente o ruído do sistema e mantém medições de alta resolução estáveis a longo prazo, reduzindo a necessidade de calibração repetida.

Aumente a eficiência dos testes

lDesign de largura de banda eletrônica e mecânica otimizadaA velocidade de varredura foi significativamente melhorada em comparação com o microscópio de força atómica de amostra grande convencional, mantendo a compatibilidade com vários modos de trabalho e acessórios.

lA varredura de alta velocidade não só reduz o tempo de captura de imagensTambém foi ampliada a aplicação. Este recurso suporta uma ampla gama de testes de amostras, mantendo uma alta resolução, e permite a caracterização completa de amostras maiores através da tecnologia de junção multiregional.

Simplificação do fluxo de trabalho

lDesign de sonda pré-instaladaSimplificar o processo de substituição da sonda.

lA configuração totalmente automatizada reduz significativamente as etapas de operação manualToque com o mouse para concluir a otimização de parâmetros.

lEquipado com sistema óptico de observação multiânguloDois sistemas CCD, incluindo visão lateral e visão superior em alta definição, ajudam a localizar rapidamente as áreas de detecção.

Fácil de operarFacilidade de uso elevada

lFluxo de trabalho inteligenteOtimizar automaticamente a configuração de parâmetros e a coleta de dados

lTodos os modos de operação seguem um conceito de design unificado, orientando o usuário através da configuração através de processos automatizados. O sistema automatiza todo o processo na medida da possibilidade técnica, para os pontos que requerem intervenção humanaOferece assistência operacional detalhada para garantir que o operador conclua a operação com sucesso.

Algoritmos inteligentes AutoPilot para maior eficiência operacional

lA funcionalidade AutoPolit se concentra na otimização da imagem básica para o modo de toque e o novo modo FFM-Topography, com outros modos avançados simplificados significativamente. Mesmo os modelos mais avançados, como o microscópio de força atómica condutora (CAFM), o microscópio de sonda Kelvin (KPFM), o microscópio de pressoeletricidade (PFM) e o microscópio capacitivo de varredura (SCM), agora são fáceis de usar sem a necessidade de uma vasta experiência.

Automação de processos de detecção repetitiva em vários pontos

lMódulo de teste de automação que permite que o usuário configure um esquema de varredura diferenciada em uma posição de coordenadas de amostra predefinida para a inspeção de qualidade industrial(QA/QC), Inclui monitoramento de qualidade e análise de perfil da superfície do processo de sedimentação/gravação da superfície do wafer. Também suporta a automatização de processos experimentais repetitivos em cenários de pesquisa, com tecnologia de varredura de alta velocidade que pode ser escalada para a inspeção sistemática de amostras de grande tamanho.