Sistema de espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha

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O sistema de espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha é um lente eletrônica de alta eficiência, um analisador hemisférico e um detector que permitem a detecção e a captura rápida de dados do espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha.

Detalhes do produto

Sistema de espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha

Sistema de espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-AlphaEspectroscopia fotoeletrônica de raios X para análise de superfície de alto desempenho

O sistema de espectrômetro fotoeletrônico de raios X (XPS) K-Alpha da Thermo Scientific traz uma nova abordagem para a análise de superfícies. O sistema K-Alpha XPS se concentra em fornecer resultados de alta qualidade usando um fluxo de trabalho simplificado que torna a operação do XPS simples e intuitiva sem sacrificar desempenho ou funcionalidade. O sistema K-Alpha XPS é um sistema integrado monocromático Small Spot XPS com capacidade de análise profunda.

O desempenho mais avançado, o preço mais baixo, a facilidade de uso e o maior volume de amostras tornam o sistema K-Alpha XPS ideal para ambientes multiusuário. O sistema K-Alpha XPS permite que pesquisadores de todo o mundo realizem análises de superfície.

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha

Fonte de raios X de alto desempenho

O monocromático de raios X equipado com o espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha permite a seleção de passos de 5 µm na área de análise de 50 µm a 400 µm para buscar o sinal desejado.

Visualização de amostra

Use o sistema de observação óptica do sistema K-Alpha XPS e o XPS SnapMap para focalizar amostras para ajudar você a identificar rapidamente a área de teste analítico.

Profundidade

Análise de superfícies mais profundas com a fonte de íons EX06 equipada com o espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha. A otimização automática de fontes e as funções de tratamento de gás garantem desempenho e reprodutividade experimental.

Banco de amostras opcional

Oferece uma variedade de bancos especiais de amostragem que combinam com o espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha, incluindo XPS de variação de ângulo, testes de amostra com pressão precursora ou transferência inerte de amostras de caixas de luvas e muito mais.

Excelente sistema óptico eletrônico

Lentes eletrônicas de alta eficiência, analisadores hemisféricos e detectores que permitem a detecção e a captura rápida de dados do espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha.

Análise de amostras de isolamento

No espectrômetro fotoeletrônico de raios X K-Alpha, a fonte de elétrons de feixe duplo obtida acopla feixes de íons de baixa energia a elétrons de baixa energia (menos de 1 eV) para evitar que a amostra seja carregada durante a análise, eliminando o efeito de carga na maioria dos casos.

Controle digital

A operação intuitiva guiada pelo sistema de dados Avantage torna o sistema K-Alpha XPS ideal para usuários múltiplos, centros de teste e especialistas em XPS que se concentram em operações eficientes e volumes elevados de teste.

Dados de desempenho do sistema K-Alpha XPS

Tipo de Analisador	Analisador hemisférico com foco duplo de 180°, detector de 128 canais
Tipo de fonte de raios X	Fonte de raios X monocromática, microfoco e de baixa potência Al K-Alpha
Tamanho da mancha de raios X	50-400 µm (ajustável em 5 µm)
Profundidade	EX06 Fonte de íons
Área máxima da amostra	60x60 milímetros
Espessura máxima da amostra	20 milímetros
Sistema de vácuo	Duas bombas turbomoleculares com sublimação automática de titânio e bomba mecânica
Acessórios opcionais	Suporte para amostras ADXPS, Funções de trabalho Suporte para amostras, Luvas Caixa

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