Espectro de Luz Leco

Espectro de Luz LecoCombinado com uma fonte de íons de descarga brilhante e um analisador de massa de alta resolução com foco duplo, é possível analisar qualitativamente e quantitativamente quase todos os elementos em amostras sólidas, incluindo C, N e O, e é composto por uma análise direta e rápida do conteúdo da revista da amostra de alta pureza e dos elementos do material de revestimento.ferramentas.

Espectro de Luz LecoDefinir novos padrões para a análise direta de materiais de alta pureza avançados em sólidos. Reduzindo ao mínimo as operações de calibração e preparação de amostras, o processamento de amostras aumenta e limites de detecção ultra-baixos são alcançados, tornando o GD-MS adequado para aplicações de análise de metais inteiras e análise profunda.
A cerâmica e vários outros pós não condutores são analisados usando eletrodos secundários, proporcionando o mesmo nível de sensibilidade e qualidade de dados. Isso torna o GD-MS um método padrão confiável para análise de traços de metais.
Quase todos os elementos presentes em amostras sólidas podem ser detectados e quantificados de forma regular: muitos elementos estão abaixo dos níveis de percentual por bilhão (ppb).
Bateria de descarga luminosa pulsada de alta velocidade µs
Fonte de íons de alta sensibilidade com modo de descarga de pulso
Ampla variedade de taxas de pulverização ajustáveis para aplicações rápidas de análise holística e análise avançada de profundidade
Análise de pó de óxido de alumínio com eletrodos secundários
Espectrómetro de massa com foco duplo
Alta taxa de transmissão de íons e baixo fundo permitem que a relação de sinal e ruído alcance limites de detecção de nível inferior a ppb
Resolução de alta qualidade oferece um alto nível de seletividade e precisão: um pré-requisito para resultados analíticos sim*
Doze sistemas de detecção automática
Detecção de matrizes e elementos ultra-traços em uma única análise com detectores totalmente automáticos que abrangem 12 faixas dinâmicas lineares de escala de quantidade
Determinação quantitativa direta do IBR de elementos de matriz (proporção de feixe de íons)
Pacote de software eficiente e fácil de usar
Todos os parâmetros são controlados pelo computador
Ajuste, análise e avaliação totalmente automática de dados
Conectividade LIMS automática
Controle remoto e diagnóstico
do Windows 7
Tempo de rotação da amostra geralmente inferior a 10 minutos
Capacidade de medir elementos de matriz para elementos ultra-trace em uma única análise
A análise de profundidade abrange espessuras de camadas de centenas de mícrons a um nanômetro
Efeitos químicos pequenos para quantificação direta