Medição do chip Lei

Medição do chip Lei

Com o uso crescente de componentes fotoeletrônicos nas áreas de telecomunicações e tecnologia de exibição, a tecnologia de extensão tornou-se uma tecnologia-chave para a produção de componentes. A extensão refere-se ao processo de deposição de uma camada muito fina de matéria semicondutora na superfície do substrato monocristalino. Cada camada cristalina é chamada de extensão.

Medição

Rugosidade da superfície
Para clientes e fornecedores, a textura da superfície é um parâmetro extremamente importante para determinar a qualidade dos semicondutores estendidos. Para as unidades atuais, o intervalo de tolerância à rugosidade se torna mais estreito porque os circuitos a imprimir em placas de silício são cada vez menores. A rugosidade da superfície do chip Lei é especificada em nanoescala, por isso é necessário usar um sistema de ruído muito baixo e alta resolução para medir o chip Lei.