Preparação de amostras para TEM, SEM e LM
Soluções únicas
O Leica EM RES102 é um dispositivo de moagem de feixe de íons único com duas fontes de íons em forma de campo de sela e energia de feixe de íons ajustável para obter os melhores resultados de moagem de íons.
Este dispositivo de desktop separado combina TEM, SEM e preparação de amostras LM, o que é muito diferente de outros dispositivos no mercado. Além da moagem iônica de alta energia
Além das funções, a Leica EM RES102 também pode ser usada em processos de moagem de feixe de íons extremamente suaves de baixa energia.
amostras TEM
› A moagem de feixe de íons de uma ou duas faces é adequada para o processo de diluição de feixe de íons de materiais. A fonte de íons em forma de campo de sela pode obter uma grande área fina transparente de feixe de elétrons.
› Alterações de ângulo de entrada de íons controladas programadamente para finalização de fins especiais de preparação de amostras, como limpeza de amostras FIB, para reduzir a camada amorfa não cristalina.
Amostras SEM ou LM
› Polimento de feixe de íons com uma área de polimento máxima de até 25 mm.
A limpeza de feixe de íons é adequada para a limpeza de camadas de contaminação da superfície da amostra ou camadas de aplicação resultantes do polimento mecânico da superfície.
› Efeito de reforço do revestimento da superfície da amostra, que pode substituir a gravura química.
› O corte de inclinação de 35° é usado para preparar secções de amostras de múltiplas camadas.
O corte em inclinação de 90° é usado para preparar amostras de semicondutores ou dispositivos de montagem para estruturas compostas, com o mínimo de pré-processamento mecânico necessário.
Preparação de amostras TEM, SEM ou LM
- Depende da sua escolha.
Para suportar uma variedade de necessidades de aplicação, o Leica EM RES102 pode ser montado com uma variedade de bancos de amostras para a preparação de amostras TEM, SEM e LM. Sala de pré-fumo
O sistema permite uma troca rápida de amostras, o que melhora a eficiência da troca de amostras.
SEM
O banco de amostras é adequado para limpeza, polimento e reforço de revestimento de feixes de íons em amostras SEM e LM e pode ser usado a temperatura ambiente ou em situações de refrigeração LN2. Banco de amostras SEM
É possível preparar amostras de tamanho máximo de 25 mm. O adaptador é usado para fixar o banco de amostra SEM para produção comercial com uma pinça de diâmetro de 3,1 mm.
SEM
A mesa de corte de amostras em inclinação é adequada para obter a seção longitudinal (90°) ou inclinada (35°) da amostra de corte, facilitando a observação da estrutura longitudinal interna da amostra pelo SEM e pode ser usada a temperatura ambiente ou em situações de refrigeração LN2. SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.
SEM
A mesa de amostras de folha fina é usada para segurar amostras de tamanho máximo de 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) mm. O banco de amostragem pode ser facilmente transferido diretamente para o SEM sem a necessidade de extrair amostras.
Produtos.
TEM
A pinça de amostra TEM é usada para diluição de feixes de íons unilaterais ou duplos, com ângulos de diluição de até 4°.
TEM
A fixação de amostras congeladas TEM é usada em conjunto com o dispositivo de refrigeração LN2 para a preparação de amostras sensíveis à temperatura.
FIB
A mesa de limpeza de amostras FIB é usada para limpar amostras FIB, reduzindo a superfície amorfa de camadas não cristalinas.
A Leica EM RES102 reduz o feixe de íons, limpa, corta secções, poli e melhora o revestimento de amostras para satisfazer as suas necessidades de diversidade e conveniência de aplicação.
Fácil de operar
Unidade de controle de computador de tela táctil de 19" para monitorar e registrar o processo de amostragem
› Biblioteca integrada de parâmetros de aplicação
Configuração de parâmetros de amostragem programada para acelerar a curva de aprendizagem do iniciante
› Ficheiros de ajuda para iniciantes e manutenção do dispositivo
Eficiência / Economia de custos
Funcionalidades de aplicações TEM, SEM e LM em um único
› A área fina obtida pela preparação de amostras TEM é grande e melhora efetivamente a eficiência da preparação de amostras TEM
› Preparação de amostras SEM com diâmetro máximo de amostras de até 25 mm
› O sistema de câmara de pré-pompagem ajuda a trocar amostras rapidamente, reduz os tempos de espera e garante um alto vácuo contínuo na câmara de amostras
› Funcionalidades de rede local para controle remoto
› A mesa de amostragem LN2 permite que amostras sensíveis à temperatura sejam moídas iônicamente em condições otimizadas
segurança
› Função de terminação automática precisa para terminação óptica ou terminação de copo Faraday para amostras transparentes
› Imagens ou vídeos ao vivo podem ser armazenados de vez em quando durante o processo de amostragem
› Motor de movimentação de fontes de íons e amostras, controlo programado para resultados de amostragem repetitivos