A medição do teor de alumínio (Al) e zinco (Zn) em revestimentos de capacitores de membrana metalizada com espectrômetros de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica rápida, não destrutiva, eficiente e amplamente utilizada. Analisador de Composição de Capacitores de Membrana Metalizada
usarXEspectrómetro de fluorescência de raios (XRFMedição do alumínio no revestimento do capacitor de membrana metálica (Al(e o zinco)ZnO conteúdo é umTecnologia rápida, sem danos, eficiente e amplamente utilizadaAqui está uma descrição detalhada de sua aplicação, princípios, vantagens e precauções:
XEspectrómetro de fluorescência de raios (XRF)⭐Princípios básicos
1. Inspiração:XRFInstrumentaçãoEmite alta energia primáriaXFeixe de raios irradiados para a superfície da amostra (a membrana metalizada do capacitor).
2. Ionização:inicianteXOs raios fazem com que a camada de superfície da amostra (geralmente com poucos mícrons de profundidade) é a camada interna dos elementos eletrônicos (comoKcamadas ouLcamadas) são estimulados a emergir, formando buracos vazios.
3. Lançamento:Quando os elétrons orbitais extraatômicos em estado instável migram para dentro para preencher um buraco, liberam uma energia específica por segunda vez.XRaios (Características)Xfluorescência de raios).
4. Análise de teste:O detector recebe fluorescência característica emitida por essesXOs raios. Diferentes elementos têmCaracterísticas específicasXEnergia dos raios (ou comprimento de onda):
ouAlumínio:KαA linha é aproximadamente1,486 keV(ouLαLinha1,487 keV)。
ouZinco:KαA linha é aproximadamente8,638 keV。
5. Quantificação:MedindoAleZnCaracterizar a força da linha de pico (área ou altura do pico no meio do espectro), em combinação com a curva de calibração (estabelecida com amostras padrão de conteúdos conhecidos), permite calcular a quantidade de alumínio e zinco no revestimento.Porcentagem de massa (peso)%)Ou distribuição do conteúdo na direção da espessura do revestimento (através do modo de perfil profundo).




Analisador de Composição de Capacitores de Membrana Metalizada Descrição do produto, parâmetros técnicos e configuração
O espectrómetro de fluorescência X EDX 4500H utiliza os princípios de detecção XRF para uma análise rápida, precisa e sem danos de vários componentes elementares.
A principal característica deste instrumento é o uso de um sistema de vácuo inteligente, que pode ter um bom efeito de excitação para elementos leves como Si, P, S, Al, Mg e outros, o uso da tecnologia XRF pode fazer uma análise precisa de elementos de alta concentração de Cr, Ni, Mo e outros, desempenhou um curto tempo de teste no controle do processo de fundição, melhorando significativamente a eficiência da detecção e a eficiência do trabalho.
Além disso, a análise de ligas, análise de elementos completos e aplicações de detecção de elementos perigosos também são muito amplas.
Analisador de Composição de Capacitores de Membrana Metalizada Características de desempenho
Tubo de raios X de janela ultrafina
Tecnologia multicanal digital para testes mais rápidos, contagens de até 100.000 CPS, maior precisão e melhores resultados na detecção de ligas
Detector FAST-SDD com boa linearidade energética, resolução energética e propriedades espectrais energéticas, alta relação pico de volta
Raios-X de baixa energia estimulam elementos a serem medidos, com bom efeito de estimulação de elementos leves como Si e P
Sistema de vácuo de bombeamento inteligente que protege os efeitos do ar e amplia significativamente o escopo dos testes
Dispositivo automático de estabilização do espectro garante a consistência do trabalho do instrumento
Unidade de linha eletrônica com alta relação sinal-ruído
Alterna automaticamente o rectificador e o filtro para diferentes amostras para evitar o trabalho manual
Tecnologia de desespectrificação permite a descomposição de picos espectrais, permitindo que os resultados dos testes dos elementos medidos tenham um grau de análise igual
Método de regressão linear multiparâmetro, para que a absorção e o efeito de aumento entre os elementos são claramente inibidos
Câmera de alta definição incorporada
A tela LCD mostra os parâmetros importantes do instrumento (pressão do tubo, fluxo do tubo, vácuo) de um olhar
Analisador rápido de elementos de cinzas de carvão Tianrui InstrumentoConfiguração padrão
Tubo de raios X de janela ultrafina
Detector FAST-SDD
Tecnologia digital multicanal
Sistema de melhoria óptica
Unidade de linha eletrônica de alta relação sinal-ruído
Câmera de alta definição incorporada
Rectificadores e filtros de comutação automática
Dispositivo de estabilização automática do espectro
Modo de proteção tripla
Estrutura de aço global confiável
Tela LCD de estado de 90mm x 70mm
bomba de vácuo