Microscópio metálico SC-50M

Microscópio metálico SC-50M

Microscópio metálico DIC de interferência diferencial de nível científico, microscópio metálico de detecção de ruptura de partículas condutoras de tela 2K

O novo microscópio metálico de pesquisa SC-50M é o primeiro de todos, desde a aparência até o desempenho, seguindo as tendências internacionais de design, com o objetivo de expandir o cenário industrial para novos padrões. SC-50M oferece aos clientes uma solução de teste industrial perfeita com uma filosofia de design de marca que continua a explorar

Projeto de cabeça de observação de versão de espectroscopia múltipla

O novo tubo da série SC-50M, projetado com um sistema de imagem de feixe amplo, suporta a visão ultra-ampla líder de 26,5 mm para oferecer uma nova experiência de grande campo de visão. O modelo de dois passos é como um telescópio triplo com dobradiça, garantindo que a amostra se mova na mesma direção que você observa através dos óculos, tornando a operação mais conveniente.

O telescópio triplo de dobradiça de três linhas, com base na luz de imagem usada para observação binocular ou fotografia triplo, adiciona uma linha de 20% para observação binocular e 80% para microfotografia, facilitando que o usuário compare simultaneamente a imagem sob o espelho e a imagem de vídeo;

Sistema de polarização

Os sistemas de polarização incluem polarizadores e detetores, que podem fazer a detecção de polarização e, na detecção de semicondutores e PCBs, podem eliminar a luz imprecisa para que os detalhes sejam mais claros. Os espetadores são divididos em espetadores fixos e espetadores rotativos de 360 graus. O polarizador rotativo de 360 ° permite observar convenientemente o estado da amostra sob diferentes ângulos de polarização sem mover a amostra. O novo interferidor diferencial de pesquisa e desenvolvimento da Shunyu pode ser carregado com base no sistema de polarização e o sistema de revestimento de interferência diferencial de Normansky pode ser estabelecido.

Sistema de revestimento de interferência diferencial de Normansky

O recém-desenvolvido componente de interferência diferencial U-DICR pode transformar diferenças subtis de alto e baixo que não podem ser detectadas sob a observação de campo de luz em diferenças de luz e escuridão de alto contraste e se apresentar em relevo estéreo, como partículas condutoras LCD, arranhos na superfície do disco de precisão, etc.