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Gaosmo (Chengdu) International Trade Co., Ltd
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Medidor de espessura de filme diferencial

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Espessometro de película diferencial $r$n sem contato amp; amp; amp; amp; #183; Destruição amp; amp; amp; amp; #183; Microscopia, foco e medição em 1 segundo ● O espessurômetro de membrana óptica diferencial da série OPTM é um elipímetro alternativo

Detalhes do produto

Medidor de espessura de filme diferencial

Medidor de espessura de filme diferencial


● O espectrômetro de espessura de membrana diferencial da série OPTM é um elipímetro alternativo para testar a espessura de membrana, a taxa de refração n, o coeficiente de dissipação k e a taxa de reflexão absoluta. É adequado para o teste de uma variedade de camadas de membrana permeável e pode remover o reflexo traseiro para o substrato transparente, para alcançar o objetivo do teste de "refletidão real, espessura da membrana". Além disso, o software é simples de operar, fácil de usar e simplifica processos de modelagem complexos.


● Não-contato, não-destrutivo, cabeça de medição livre para integração no sistema do cliente

• Os iniciantes também podem analisar facilmente os padrões de análise de iniciantes da modelagem

● Medição de alta precisão e alta reprodutividade da refletidão absoluta dentro da faixa ultravioleta ao infravermelho próximo, que pode analisar a espessura da película fina de várias camadas, constantes ópticas (n: refração, k: fator de extinção de luz)

• Aumento de foco em um único ponto em 1 segundo

● Sistema óptico de ampla gama sob luz diferencial (ultravioleta ~ infravermelho próximo)

Cabeça de teste independente para diversas necessidades de personalização inline

Spot mínimo correspondente de cerca de 3 μm


Projetos de medição

Análise da Reflexividade Absoluta

• Análise de camadas múltiplas (50 camadas)

Constantes ópticas (n: índice de refração, k: fator de extinção)

As amostras de substratos transparentes, como membranas ou vidro, não podem ser medidas corretamente devido ao reflexo interno do substrato. A série OPTM usa objetivos que permitem a remoção física dos reflexos internos, permitindo medições de alta precisão até mesmo em substratos transparentes. Além disso, para amostras como membranas ópticamente heterodiretas ou SiC, a membrana acima também pode ser medida separadamente.

(Número 5172203)
显微分光膜测厚仪


Ámbito de aplicação

● Semicondutores, semicondutores compostos: semicondutores de silício, semicondutores de carboneto de silício, semicondutores de arseneto de gálio, fotogravura, materiais de constante dielétrica

FPD: LCD, TFT, OLED (EL orgânico)

● Armazenamento de dados: DVD, filme de cabeça magnética, material magnético

● Materiais ópticos: filtro, película antirreflexo

● Monitor plano: LCD, transistor de película fina, OLED

● Películas finas: AR, HC, PET, etc.

Outros: materiais de construção, colas, DLC, etc.


O OPTM-A1

O OPTM-A2

O OPTM-A3


Intervalo de comprimento de onda

230 ~ 800 nm

360 ~ 1100 nm

900 ~ 1600 nm

Gama de espessura da membrana

1nm ~ 35μm

7nm ~ 49μm

16nm ~ 92μm

Tempo de medição

1 segundo / 1 hora

Tamanho do diámetro

10μm (mínimo de aproximadamente 3μm)

Sensores de luz

CCD

InGaAs


Especificações da fonte de luz

lâmpada de deutério

Lâmpadas de halogênio


dimensão

556(L) X 566(D) X 618(H) mm (Parte principal da plataforma XY automática)

peso

66 kg (parte principal da plataforma XY automática)

Marcas: CCS Nissan, EYE Iwasaki, REVOX Leypax, SERIC Solec

SONIC Sonic, SANKO 三高, NEWKON 新光, NPM 日SonSonSonSonic, Sugiyama Sugiyama

NS Ciência do Japão, DRY-CABI, TOKISANGYO, SIBATA Shida

Marcas vantajosas: USHIO Cowtail, TOPCON Topcon, FUNATECH Ship Yonglong, ORC Eurasia, HAYASHI Forest Relógio

SAGADEN Saga, Sakazume Saka, DNP Big Japan Research, TOKYO DENSHOKU Electric Color, KKIMAC

S-VANS Swans, ORIHARA Takahara, LUCEO Rukiyo, HIKARIYA 光屋, YAMADA Yamada óptica

AND, T&D, JIKCO, DKK-TOA, Okano Okano

IMV Aimeiko, Mitutoyo Sanyo, Kyowa Republic, Onosokki Ono, Sanei Sanyo

HEIDON, KURABO, SHOWA, THINKY