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Mei Spectre Tecnologia (Xangai) Co., Ltd.
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QVWLI606 imager de medição 3D de alta precisão composto de interferência de luz branca

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Imagem de medição 3D de alta precisão composta de interferência de luz branca QVWLI606, imagem de medição 3D de alta precisão composta de interferência de luz branca Sanfeng HuickViseonWli com análise de forma de superfície / análise de rugosidade tridimensional com base nos dados 3D obtidos pelo sistema óptico WLI. Também é possível medir tamanhos e formas de secção em alturas especificadas com base em dados 3D.
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