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Analisador de componentes metálicos ROHS

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Os analisadores de componentes metálicos ROHS (SXES: Soft X-Ray Emission Spectrometer) alcançam uma alta resolução energética combinando um raster de difração recém-desenvolvido e uma câmera CCD de raios X de alta sensibilidade. Assim como o EDS, ele pode ser detectado em paralelo e analisado com uma resolução de alta energia de 0,3 eV (referência Al-L no lado de Fermi), superando a resolução de energia do WDS.
Detalhes do produto

  Analisador de componentes metálicos ROHSO Espectrómetro de Emissão de Raios-X (SXES: Soft X-Ray Emission Spectrometer) alcança uma alta resolução energética combinando um raster de difração recém-desenvolvido e uma câmera CCD de raios-X de alta sensibilidade.

Assim como o EDS, ele pode ser detectado em paralelo e analisado com uma resolução de alta energia de 0,3 eV (referência Al-L no lado de Fermi), superando a resolução de energia do WDS.

  Analisador de componentes metálicos ROHSO sistema de espectroscopia recentemente desenvolvido é capaz de obter espectros de diferentes energias simultaneamente sem a necessidade de mover um raster de difração ou um detector (CCD). Além disso, devido à alta resolução energética, também é possível obter mapas de análise de estado

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Espectrograma de amostras de nitreto de titânio em diferentes métodos de espectroscopia de comparação de SXES, WDS, EDS

Mesmo os picos espectrais de nitreto de titânio se sobrepõem na análise do WDS e requerem abordagens matemáticas de desconvolvimento. Como mostrado no gráfico abaixo, o SXES tem uma alta resolução energética.

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  Tabela de comparação

    Características SXES EPMA (WDS) EDS
    Resolução 0,3 eV
    (ao lado de Fermi, Al-L)
    8 eV ( FWHM@Fe-K ) 120-130 eV
    ( FWHM@Mn-K )
    Análise do estado da combinação química pode Sim (principalmente elementos leves) Não posso.
    Detecção paralela pode Não posso.
    (Mas o número de unidades de espectroscopia)
    pode
    Cristais espectrais e detectores Raster de difração + CCD Espectral cristal + tubo de contagem proporcional SDD
    Refrigeração do detector Refrigeração Perther Não é necessário. Refrigeração Perther
    Limite de detecção (com B como valor de referência) 20 ppm 100ppm 5000ppm

    Análise de bateria de íons de lítio secundária (LIB)

    Pode observar a carga do LIB

    p1001_sxes_cn_04.png



  Espectrograma de amostras de Li-K carregadas


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Descrição: Detecção de óxido de lítio é difícil por razões teóricas

Exemplos de teste de elementos leves

Exemplos de teste de compostos de carbono do SXES

Pode testar a diferença entre diamantes, grafito e polímeros.

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Instanças de teste de vários compostos de nitrogênio O nitrogênio também pode analisar o estado de ligação química de acordo com a forma de onda. As formas de onda dos nitratos e nitretos são diferentes, e as formas de onda do sal de amônio, vulnerável a danos do feixe de eletrões, também podem ser observadas.

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