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Endereço
22B-1, Edifício A, Hechuan, 235 Nanjing Road, Rua Nanjingmen, Distrito de Heping, Tianjin
Tianjin Reli Optoelectronics Technology Co., Ltd.
22B-1, Edifício A, Hechuan, 235 Nanjing Road, Rua Nanjingmen, Distrito de Heping, Tianjin
Nome do produto:Espectrómetro Sarspec X-RES
Modelo do produto:X-RES 1
Apresentação do Produto
O X-RES é ideal para espectrómetros que exigem desempenho de alta resoluçãoExatamenteDouda Características espectrais estreitamente alinhadas de 0,05 nm (FWHM). O X-RES é montado em uma mesa óptica robusta e compacta, com uma distância focal de 100 mm, e pode ser fornecido em uma faixa de comprimentos de onda de trabalhoaltoO desempenho e a sensibilidade, bem como a maior simetria de picos, tornam esta série de espectrômetros uma solução para aplicações de alta resolução.
Funções como a substituição de fendas e filtros ópticos, indicadores de estado de energia e funções de acionamento permitem integrar este espectrômetro às suas configurações.O X-RES oferece configurações prontas para uso (para aplicações mais comuns) e personalizadas pelo usuário (para aplicações mais específicas) para faixas estreitas de UV-Vis e Vis-NIR e faixas extensas de UV-Vis-NIR.
Características de desempenho
lIdeal para aplicações de alta resolução
lO usuário pode substituir fendas e filtros ópticos
lResolução óptica tão baixa 0,05 nm (FWHM)
lDesign óptico melhorado Distância focal de 100 mm
lacompanhado Software LightScan
Guia de seleção
Parâmetros técnicos
Origem: Portugal
Área de operação:185-1100 nm (em 8 faixas de operação)
Lente de foco: opcional (incluída na versão com maior sensibilidade)
Conectores de fibra óptica:SMA 905
Atigador: Entrada/ Saída
Tamanho da fenda:10 μm (substituível)
Detectores:3648 peças Toshiba
Tempo de integração:3ms-214s
Software:LightScan (incluído)
Raster: de acordo com a gama selecionada
Resolução óptica:0,05 a 0,1 nm
Interface:Mini-USB
Aplicações do produto
O X-RES é um espectrómetro de alta resolução que atende a todas as exigências de suas aplicações de alta resolução.
As funções de fendas e filtros ópticos substituíveis pelo usuário permitem que você configure X-RES para medições mais sensíveis. Essa flexibilidade, combinada com uma sensibilidade melhorada, torna o sistema uma solução para aplicações de alta resolução, como propriedades de comprimentos de onda de lasers e LEDs, monitoramento de linhas de emissão espectral de fontes de calibração ou determinação de linhas de emissão de átomos de elementos.