Microscópio eletr?nico de varredura de feixe de i?es focado Scios 2 DualBeam

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Visão geral

O microscópio eletr?nico de varredura de feixe i?nico focalizado Scios 2 DualBeam é usado para prepara??o de amostras de alta qualidade e caracteriza??o 3D de ultra-alta resolu??o.

Detalhes do produto

O Scios 2 DualBeamMicroscópio elétrico de varredura de feixe de íons focado para ultra-alta resolução, preparação de amostras de alta qualidade e caracterização 3D

Thermo CientíficoO Scios 2 DualBeamUm sistema de microscópio eletrônico de varredura de feixe de íons focalizado (FIB-SEM) de análise de ultra-alta resolução que oferece excelente preparação de amostras e caracterização 3D para uma variedade de amostras, incluindo materiais magnéticos e não condutores. Aumentando o fluxo, a precisão e a facilidade de uso através de um design funcional inovador, é a solução ideal para atender às necessidades avançadas de pesquisa e análise de cientistas e engenheiros em áreas acadêmicas, governamentais e industriais.

O Scios 2 DualBeamMicroscópio elétrico de varredura de feixe de íons focadoCaracterísticas principais:

Preparação rápida e fácil

Obtenha amostras de alta qualidade de TEM e sondas atômicas específicas do local com a coluna de íons Sidewinder HT.

Informação completa da amostra

Obtenha contrastes claros, precisos e sem carga com uma variedade de detectores integrados dentro e sob as lentes da coluna cromatográfica.

Navegação de amostras precisa

A plataforma de carregamento altamente flexível de 110 mm e a câmera Thermo Scientific Nav-Cam dentro da câmara permitem a personalização de acordo com as necessidades específicas da aplicação.

Otimize sua solução

A configuração flexível do DualBeam, incluindo o modo de baixo vácuo com pressão de câmara de até 500 Pa opcional, atende às necessidades específicas da aplicação.

Obtenha amostras de alta qualidade de TEM e sondas atômicas específicas do local com a coluna de íons Sidewinder HT.

Imagem de alta resolução

Utilize colunas de cromatografia eletrônica Thermo Scientific NICol com desempenho em uma ampla gama de amostras, incluindo materiais magnéticos e não condutores.

Subsuperfícies multimodais e informações 3D de alta qualidade

Use o software AS&V4 opcional para obter informações subsuperficiais e 3D de alta qualidade, multimodais, direcionando com precisão as áreas de interesse.

Imagem sem falsificação e padrões de composição

Disponibilidade de modos dedicados, como DCFI, supressão de deriva e Thermo Scientific SmartScan.

especificação

Resolução do feixe de eletrões	Melhor WD 0,7 nm em 30 keV STEM 1,4 nm em 1 keV 1,2 nm a 1 keV (redução do raio)
Espaço de parâmetros do feixe de eletrões	Faixa de corrente de feixe de eletrões: 1 pA a 400 nA Faixa de energia de pouso: 20* eV – 30 keV Faixa de tensão de aceleração: 200 V – 30 kV Largura máxima de campo de disparo horizontal: 3,0 mm para 7 mm WD e 7,0 mm para 60 mm WD Oferece um campo de visão ultra-amplo com clipes de navegação padrão (1×)
Sistema óptico iônico	Tensão de aceleração: 500 V – 30 kV Faixa de corrente: 1,5 pA – 65 nA 15 posição de luz Modo de supressão de deriva como padrão para amostras não condutoras Vida mínima da fonte de íons: 1.000 horas Resolução do feixe de íons: 3,0 nm em 30kV sob o método de seleção de ângulo
Detectores	Sistema de inspeção Trinity (dentro do espelho e dentro da coluna cromatográfica) T1 Detector interno de espelho em segmento T2 Detector interno do espelho superior Detector de coluna cromatográfica retrátil T3 (opcional) Até 4 sinais simultaneamente Detectores Everhart-Thornley SE (ETD) Conversão de íons de alto desempenho e detector de eletrônicos (ICE) para íons secundários (SI) e eletrônicos secundários (SE) (opcional) Detector elétrico de dispersão inversa de estado sólido (DBS) escalável, de baixa tensão, de alto contraste, segmentado (opcional) Detector STEM 3+ escalável com segmentação BF/DF/HAADF (opcional) Ver câmeras IR para amostras e câmaras Câmera de navegação de amostras Nav-Cam na câmara (opcional) Medição de corrente de feixe integrada
Carregamento e amostras	Plataforma elétrica flexível de 5 eixos: Gama XY: 110 mm Faixa Z: 65 mm Rotação: 360° (ilimitado) Faixa de inclinação: -15° a +90° Repetibilidade XY: 3 μm Altura máxima da amostra: 85 mm com o ponto de confêntrico Peso máximo da amostra em inclinação de 0°: 5 kg (incluindo o suporte para amostras) Tamanho máximo da amostra: 110 mm em rotação (também pode ser uma amostra maior, mas com rotação limitada) Rotação e inclinação do centro de cálculo

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